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最終更新日:2019-08-16 10:09:51.0

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[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法

基本情報[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法

薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像して高倍率で観察する手法です

TEM分析における下記の情報を掲載しております
・装置概観
・特徴
・適用例
・原理
・装置構成
・データ例
・データ形式
・仕様
・料金
・速報納期
・必要情報
・注意点

[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法

[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 製品画像

TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。

■長所
・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能
・試料の結晶性を評価し、物質の同定を行うことが可能
・FIBで試料作製することにより、デバイス内の指定箇所をピンポイントで観察することが可能
・オプション機能を組み合わせることにより、局所領域の組成・状態分析なども可能

■短所
・試料を薄片化する必要がある(一部の試料において薄片化が困難な場合もある)
・単原子を見ているのではなく、試料の厚み方向(通常約0.1μm厚) の平均情報を映し出している
・試料加工および観察により、試料が変質・変形することがある (詳細を見る

取扱会社 [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法

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受託分析サービスで、研究開発を行う皆様をサポートします! 半導体・金属・電池などのエレクトロニクス材料や、医薬品・化粧品・食品・環境などのライフサイエンス分野に幅広く対応。 SIMS・TEM・XRD・ICP-MS・GC/MS・AES・SEM・EPMA・EELSなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。 まずはご相談下さい。 ◆事業領域◆ 1. 科学技術分野における材料に関する基礎的研究及び解析・評価。 2. 半導体、生理学生化学、バイオ関連分野及び各種先端的分野についての基礎的研究及び解析・評価。 3. 1、2号に掲げる国内外における関連分野の研究機関又は個人に対する表彰及び支援。 4. 1、2号に掲げる研究成果等の出版または出版の支援。 5. 1、2号に掲げる国内外における関連分野の調査。 6. 1、2号に掲げる国内外における関連分野に関する研修の実施及び支援または研修所の運営。 7. その他目的を達成するために必要な事業。

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