粒度分布測定装置『LS 13 320 XR』

わずかな違いを迅速に測定！数クリックの操作で必要なデータを得ることが可能です。

『LS 13 320 XR』は、PIDS技術の向上と測定範囲の拡張により、
より高い分解能、精度、そして再現性を実現した、新しい型の
レーザー回折・散乱法 粒度分布測定装置です。

より広範囲の粒子計測が可能となり、高い信頼のもと、サンプルの
わずかな違いを迅速に検出できます。

直観的なソフトウエアインターフェースにより、わずか数クリックの操作で
必要なデータを得ることが可能です。

【特長】
■測定範囲の拡張：10nm～3,500μm
■測定前に粒度分布が不明であっても正しい結果を測定
■サブミクロン以下の小さな粒子の測定が可能
■測定開始からクリック2回で結果を取得
■合理的な作業フローで時間を節約

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。