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最終更新日:2016-05-19 14:20:53.0

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掲載開始日:2016-05-19 00:00:00.0

技術情報「樹脂中に存在している異物の評価(C0426)」を公開

MSTホームページにて、下記分析事例を公開しました。
・樹脂中に存在している異物の評価(C0426)

詳細はMSTホームページをご覧ください。
http://www.mst.or.jp/

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試料の断面加工によりTOF-SIMSで樹脂中異物の評価が可能

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受託分析サービスで、研究開発を行う皆様をサポートします! 半導体・金属・電池などのエレクトロニクス材料や、医薬品・化粧品・食品・環境などのライフサイエンス分野に幅広く対応。 SIMS・TEM・XRD・ICP-MS・GC/MS・AES・SEM・EPMA・EELSなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。 まずはご相談下さい。 ◆事業領域◆ 1. 科学技術分野における材料に関する基礎的研究及び解析・評価。 2. 半導体、生理学生化学、バイオ関連分野及び各種先端的分野についての基礎的研究及び解析・評価。 3. 1、2号に掲げる国内外における関連分野の研究機関又は個人に対する表彰及び支援。 4. 1、2号に掲げる研究成果等の出版または出版の支援。 5. 1、2号に掲げる国内外における関連分野の調査。 6. 1、2号に掲げる国内外における関連分野に関する研修の実施及び支援または研修所の運営。 7. その他目的を達成するために必要な事業。

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