表面粒子計測器『QIII LS』
表面粒子計測器『QIII LS』 http://ls.ipros.jp/public/product/image/a50/2000259837/IPROS8187831560551438492.jpg 【製品仕様】 ■対象粒径:5、25、50、75、100、125(um) ■粒径表示チャンネル数:6チャンネル ■計測表示:個/単位面積、総個数 ■サイズ:W14インチ(35.56cm)× D13.5インチ(34.29cm)× H9インチ(22.86cm) ■重量:19.8ポンド(約 9 kg) ■用力:100-240VAC、50/60Hz ■ディスプレイ:7インチWVGA(タッチパネル式) ■GUI:Windows CE ■センサー:半導体レーザー使用(光散乱方式) *クラス1レーザー製品 ■データ出力:USB、Ethernet ■プローブフェイスプレート:Vespel ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 JFE商事エレクトロニクス株式会社 第二営業部計測機器営業室 品質管理・衛生対策 > 集塵機・集塵関連製品 > パーティクルカウンター
  • バイアル瓶中の微粒子測定や、ゲノミクス研究でのウイルス数の把握当に最適な表面粒子計測器
    JFE商事エレクトロニクス株式会社
    『QIII LS』は、表面上の粒子が簡単・迅速に測定できる表面粒子計測器です。

    測定箇所の形状に合わせた多彩な測定用プローブを用意。従来の手法では難しい箇所の計測を可能にし、局所的な測定で発塵原の特定します。

    クリーニングの手順と基準を定量的に規定できるため、作業者の勘と経験に頼ること無く、粒子管理のバラつきを抑えます。

    【効果】
    ■パーティクルに起因したトラブルの低減
    ■表面清浄度管理・定量化
    ■各種装置メンテナンス回数の低減

    ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
  • 画像をクリックして拡大イメージを表示

基本情報表面粒子計測器『QIII LS』

【製品仕様】
■対象粒径:5、25、50、75、100、125(um)
■粒径表示チャンネル数:6チャンネル
■計測表示:個/単位面積、総個数
■サイズ:W14インチ(35.56cm)× D13.5インチ(34.29cm)× H9インチ(22.86cm)
■重量:19.8ポンド(約 9 kg)
■用力:100-240VAC、50/60Hz
■ディスプレイ:7インチWVGA(タッチパネル式)
■GUI:Windows CE
■センサー:半導体レーザー使用(光散乱方式) *クラス1レーザー製品
■データ出力:USB、Ethernet
■プローブフェイスプレート:Vespel

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格

-
※お問い合わせください

価格帯

納期

発売日

取扱い中

用途/実績例

【用途】
■クリーン化が求められるサンプル表面の清浄度検査
■ISOクラス7クリーンまでの環境下での使用が可能

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

よく使用される業種

化学・繊維、研究・開発用機器・装置、製造用機械、大学・研究機関、官公庁・団体・協会、その他

カタログ表面粒子計測器『QIII LS』

  • 『QIII LS』は、表面上の粒子が簡単・迅速に測定できる
    表面粒子計測器です。

    測定箇所の形状に合わせた多彩な測定用プローブを用意。
    従来の手法では難しい箇所の計測を可能にし、
    局所的な測定で発塵原の特定します。

    クリーニングの手順と基準を定量的に規定できるため、
    作業者の勘と経験に頼ること無く、粒子管理のバラつきを抑えます。

    【効果】
    ■パーティクルに起因したトラブルの低減
    ■表面清浄度管理・定量化
    ■各種装置メンテナンス回数の低減

    ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
    [PDF:2MB]

取扱会社表面粒子計測器『QIII LS』

JFE商事エレクトロニクス株式会社 第二営業部計測機器営業室

システムLSIを含むASIC全般、高性能IC用ウェーハ・ファンドリー、放送機器用IC、メモリ、セキュリティ(センサー)関連ICなどの半導体製品及び、電子部品実装関連、デバイス関連、ディスプレイ関連装置、生産システム全体の提案からメンテナンス、業用洗浄設備、計測機器 等。 計測機器営業室では主に海外の最先端の計測器、分析装置、製造装置を取り扱っております。下記分野・用途への適用が可能です。 *微粒子に関するコンタミネーションコントロールのノウハウとソリューション — 領域は液中、真空中、大気中(表面汚染粒子) *微量成分分析、ナノサイズの物質の形状・環境変化に応じた動態観察 *深紫外から中赤外まであらゆる波長の光源を使用した、レンズ、光学フィルター、ミラー、レーザビーム等の評価・品質管理  *膜ムラ分布分析 *燃焼式排ガス処理  *マイクロ波分解・合成調製  *粘度、密度、粘弾性、ゼータ電位測定

表面粒子計測器『QIII LS』へのお問い合わせ

お問い合わせ内容をご記入ください。

至急度[必須]

ご要望[必須]


  • あと文字入力できます。

動機[必須]

添付資料

お問い合わせ内容

あと文字入力できます。

【ご利用上の注意】
お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。
はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら
イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。
メールアドレス

※お問い合わせの際、以下の出展者へご連絡先(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されます。

JFE商事エレクトロニクス株式会社 第二営業部計測機器営業室

表面粒子計測器『QIII LS』 が登録されているカテゴリ

分類カテゴリから探す

最近チェックした情報

クリップ

気になる製品・カタログ・企業などがあったらクリップに保存しておくと便利です。

  • キーマンインタビュー