JFE商事エレクトロニクス株式会社 表面粒子計測器『QIII LS』

表面粒子計測器『QIII LS』 http://ls.ipros.jp/public/product/image/a50/2000259837/IPROS8187831560551438492.jpg 【製品仕様】 ■対象粒径:5、25、50、75、100、125(um) ■粒径表示チャンネル数:6チャンネル ■計測表示:個/単位面積、総個数 ■サイズ:W14インチ(35.56cm)× D13.5インチ(34.29cm)× H9インチ(22.86cm) ■重量:19.8ポンド(約 9 kg) ■用力:100-240VAC、50/60Hz ■ディスプレイ:7インチWVGA(タッチパネル式) ■GUI:Windows CE ■センサー:半導体レーザー使用(光散乱方式) *クラス1レーザー製品 ■データ出力:USB、Ethernet ■プローブフェイスプレート:Vespel ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 JFE商事エレクトロニクス株式会社 第二営業部計測機器営業室 品質管理・衛生対策 > 集塵機・集塵関連製品 > パーティクルカウンター
バイアル瓶中の微粒子測定や、ゲノミクス研究でのウイルス数の把握当に最適な表面粒子計測器

『QIII LS』は、表面上の粒子が簡単・迅速に測定できる表面粒子計測器です。

測定箇所の形状に合わせた多彩な測定用プローブを用意。従来の手法では難しい箇所の計測を可能にし、局所的な測定で発塵原の特定します。

クリーニングの手順と基準を定量的に規定できるため、作業者の勘と経験に頼ること無く、粒子管理のバラつきを抑えます。

【効果】
■パーティクルに起因したトラブルの低減
■表面清浄度管理・定量化
■各種装置メンテナンス回数の低減

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報表面粒子計測器『QIII LS』

【製品仕様】
■対象粒径:5、25、50、75、100、125(um)
■粒径表示チャンネル数:6チャンネル
■計測表示:個/単位面積、総個数
■サイズ:W14インチ(35.56cm)× D13.5インチ(34.29cm)× H9インチ(22.86cm)
■重量:19.8ポンド(約 9 kg)
■用力:100-240VAC、50/60Hz
■ディスプレイ:7インチWVGA(タッチパネル式)
■GUI:Windows CE
■センサー:半導体レーザー使用(光散乱方式) *クラス1レーザー製品
■データ出力:USB、Ethernet
■プローブフェイスプレート:Vespel

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格 -
※お問い合わせください
価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
発売日 取扱い中
用途/実績例 【用途】
■クリーン化が求められるサンプル表面の清浄度検査
■ISOクラス7クリーンまでの環境下での使用が可能

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
よく使用される業種 化学・繊維、研究・開発用機器・装置、製造用機械、大学・研究機関、官公庁・団体・協会、その他

カタログ表面粒子計測器『QIII LS』

表面粒子計測器『QIII LS』

表面粒子計測器『QIII LS』 表紙画像

『QIII LS』は、表面上の粒子が簡単・迅速に測定できる
表面粒子計測器です。

測定箇所の形状に合わせた多彩な測定用プローブを用意。
従来の手法では難しい箇所の計測を可能にし、
局所的な測定で発塵原の特定します。

クリーニングの手順と基準を定量的に規定できるため、
作業者の勘と経験に頼ること無く、粒子管理のバラつきを抑えます。

【効果】
■パーティクルに起因したトラブルの低減
■表面清浄度管理・定量化
■各種装置メンテナンス回数の低減

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

取扱企業表面粒子計測器『QIII LS』

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JFE商事エレクトロニクス株式会社 第二営業部計測機器営業室

システムLSIを含むASIC全般、高性能IC用ウェーハ・ファンドリー、放送機器用IC、メモリ、セキュリティ(センサー)関連ICなどの半導体製品及び、電子部品実装関連、デバイス関連、ディスプレイ関連装置、生産システム全体の提案からメンテナンス、業用洗浄設備、計測機器 等。 計測機器営業室では主に海外の最先端の計測器、分析装置、製造装置を取り扱っております。下記分野・用途への適用が可能です。 *微粒子に関するコンタミネーションコントロールのノウハウとソリューション — 領域は液中、真空中、大気中(表面汚染粒子) *微量成分分析、ナノサイズの物質の形状・環境変化に応じた動態観察 *深紫外から中赤外まであらゆる波長の光源を使用した、レンズ、光学フィルター、ミラー、レーザビーム等の評価・品質管理  *膜ムラ分布分析 *燃焼式排ガス処理  *マイクロ波分解・合成調製  *粘度、密度、粘弾性、ゼータ電位測定

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