• 【分析事例】極浅ドーパント分布の高精度分析 製品画像

    【分析事例】極浅ドーパント分布の高精度分析

    高い再現精度で評価可能

    デバイスの微細化により、極浅い領域における不純物の深さ方向分布評価が必要とされています。正確な評価を行うためには、通常よりも低いエネルギー(1keV以下)の一次イオンビームを用いたSIMS分析が必要になります。今回、B+を低エネルギーでイオン注入したSiウエハを1keVの酸素イオンビームを用いて、日をまたいで、6回測定した結果から算出したBの面密度の相対標準偏差は3%以下であり、極浅い不純物分布評...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】アルミホイル表面の成分分析 製品画像

    【分析事例】アルミホイル表面の成分分析

    光沢面・つやなし面の違いを評価

    アルミホイルは、2枚重ねでローラーによって圧延し製造され、ローラーに接する外側は光沢面に、アルミ同士が接した内側はつやなし面になります。それぞれの面の極表面に存在する成分を比較しました。 PDMS(シロキサン)、BHT(酸化防止剤)、DOP(可塑剤)、アミン(m/z 182, 242)、アミド(m/z 256, 284)、カルボン酸(m/z 255, 283)など一般的な有機物系二次汚染物質は見...

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  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池 Si負極の評価 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池 Si負極の評価

    サンプル冷却により充電後のSi負極の構造を評価可能

    Siは高容量負極活物質の候補の一つですが、充放電時の非常に大きな体積変化のためにサイクル劣化が激しいと言われています。今回、充電後のSi負極の状態を確認するために、雰囲気制御環境下で解体して冷却FIB加工を行い、SEMにて断面形状を観察しました。室温で断面観察を行った場合は、膜の収縮・観察面の荒れ・孔発生等の大きなダメージが見られる一方で、冷却しながら観察を行うことでSi負極の変質を抑えて試料本来...

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  • 【分析事例】二次電池正極活物質の劣化評価 製品画像

    【分析事例】二次電池正極活物質の劣化評価

    結晶構造から活物質の劣化状態を評価

    リチウムイオン二次電池の正極活物質のLiCoO2は充放電時のリチウムのインターカレーションにより結晶の面間隔等が変化します。また過充電や長期サイクル試験により組成や結晶構造が大きく変化して充放電特性の低下が起きることが知られています。今回はXRDやRaman分光法を用いることでそれらを評価した事例を紹介いたします。更にin situ(オペランド)XRD測定を行うことで、各充電状態(SOC:Stat...

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  • 【分析事例】低分子シロキサンの定量分析 製品画像

    【分析事例】低分子シロキサンの定量分析

    アウトガス中のシロキサンをngオーダーで定量します

    シリコーン製品からアウトガスとして発生するシロキサンは、揮発しやすく基板等に付着しやすい成分です。シロキサンが付着すると、光学系レンズの曇り、膜の剥離や密着不良、リレー回路の接点障害などの悪影響が出ることが知られており、シロキサンのアウトガス量を調査しておくことは重要です。 本資料では、シリコンチューブを200℃で加熱した際の環状ジメチルシロキサンの発生量を調査した事例を紹介します。。...詳し...

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  • 【分析事例】めっき試料の脱ガス評価 製品画像

    【分析事例】めっき試料の脱ガス評価

    Ni/Auめっきの昇温脱離ガス分析(TDS)

    めっき膜にガスが含有されている場合、はがれや膨れ、膜中の気泡など不良の原因となる場合があります。めっき膜に含有されているガスについて調査するには、高真空中で試料を昇温させて脱離したガスを測定できるTDSが有効です。 SUS部材上にNi/Auめっきを施した試料について、TDS分析を行った結果を示します。めっき膜からH2, HCN, H2S, HClの脱離が確認できました。また、定量値の算出を行いま...

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  • 【分析事例】プラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査 製品画像

    【分析事例】プラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査

    TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の最表面の評価…

    細胞培養シャーレの表面では、細胞の密着性(接着性)を高めるために、疎水性のプラスチック表面を親水性に変える処理が行われています。今回、親水処理を行ったシャーレの表面についてXPS,TOF-SIMSで評価した結果、OH,CHOが増加していることがわかりました。XPSで定量的な評価を行い、TOF-SIMSで定性的な評価を行うことで、表面がどのように変化したかを捉えることが可能です。 ...詳しいデー...

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  • 【分析事例】フラックスの洗浄残渣評価 製品画像

    【分析事例】フラックスの洗浄残渣評価

    微小・極薄の残渣をイメージとして捉えます

    近年のPbフリーハンダ導入に伴い、フラックス成分も改良(活性度が高い、熱耐性がある等)が進み、腐食性が大きくなり、残渣の問題も重要度を増しています。そのため、フラックスを除去することが求められています。プリント基板電極部の異物について、TOF-SIMSを用いた分析を行った結果、フラックスの成分が検出されました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池 セパレータの評価 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池 セパレータの評価

    サンプルを冷却しセパレータの形状をより正確に評価

    電池の主要構成材料であるセパレータは、この材料の多孔性・形状等が電池の特性・安全性を左右します。現在主流のポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)、あるいはその複合材料等高分子系材料は軟化点が低くPEでは125℃程度、PPでは155℃程度となります。軟化点の低いPP製のセパレータ構造観察において、試料の冷却を行って変質を抑えて評価した事例をご紹介します。...詳しくは資料をダウンロード、または...

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  • 【分析事例】消毒前後における不織布マスクの表面形状観察 製品画像

    【分析事例】消毒前後における不織布マスクの表面形状観察

    アルコール消毒前後でマスク表面の形状を比較

    ウイルスによる感染症予防のためマスク使用の頻度があがっています。しかしながらその使用方法や耐性についての根拠となる構造的なデータは乏しい状況です。本資料では、アルコール消毒前後のマスク表面の繊維をSEMで観察した結果を紹介します。アルコール消毒後では、繊維の形状が変化し、また消毒前の特徴的な凸形状が少なくなっていることがわかりました。 測定法: SEM 製品分野:日用品、ウイルス対策関連品 ...

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  • 【分析事例】粘着テープの残渣評価 製品画像

    【分析事例】粘着テープの残渣評価

    TOF-SIMSにより表面付着物成分を同定します

    粘着テープの残渣は、製造工程において密着不良・剥離の原因となります。不良の原因として残渣が疑われる場合、表面付着物の成分とその分布を調べることができるTOF-SIMSが有効です。 粘着テープをSiウエハ表面に張り、剥がした後のSiウエハ表面および粘着テープの表面をTOF-SIMSで測定した事例をご紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】ウエットエッチングによる有機付着物除去 製品画像

    【分析事例】ウエットエッチングによる有機付着物除去

    表面汚染を除去してXPSによる評価を行います

    XPSは表面敏感な手法のため、大気等による有機付着物由来のCが主成分レベルで検出されます。こういった有機付着物由来のCの影響を減らすことは、膜本来の組成を評価する上で重要です。 通常、有機付着物の除去にはArイオンスパッタを用いますが、スパッタによるダメージにより膜本来の組成,結合状態が評価できない場合があります。Arイオンスパッタを使用せず、表面酸化層をウェットエッチングを用いて除去することで...

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  • 【分析事例】有機膜材料の配向角評価 製品画像

    【分析事例】有機膜材料の配向角評価

    XAFS:X線吸収微細構造

    配向性有機膜である自己組織化単分子膜(SAM膜)は表面の濡れ性や吸着性といった膜の機能・物性が配向性・配向角によって変化します。 放射光を用いたXAFSでは、ピーク強度のX線入射角依存性を解析することで有機膜材料の配向性・配向角の評価を行うことが可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】熱分解GC/MSダブルショット法による添加剤の同定 製品画像

    【分析事例】熱分解GC/MSダブルショット法による添加剤の同定

    TG-DTAとGC/MSを用いた複合解析

    TG-DTA(熱重量-示差熱)分析とGC/MS分析を併用することで、最適な温度条件を選んで未知の高分子材料及び含有する揮発性有機化合物をそれぞれ同定することが可能です。市販製品のプラスチック部分の熱分解温度を調べ、熱分解温度以下での緩やかな昇温(熱脱着法)と、その後の高温での瞬間加熱(熱分解法)の2条件でGC/MS測定を連続的に行うこと(ダブルショット法)により、このプラスチックはAS樹脂であり、...

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  • 【分析事例】HfZrOx膜の結晶構造同定・含有割合の算出 製品画像

    【分析事例】HfZrOx膜の結晶構造同定・含有割合の算出

    XRD・XAFSによる複合解析で、より詳細な評価が可能

    high-k材料や強誘電体として注目されているHfZrOx膜は、結晶構造によって誘電率等の物理的性質が大きく変化することから、結晶構造の同定・各結晶構造の含有割合の算出が重要な評価項目です。 通常XRDやXAFSによって評価可能ですが、一方の手法だけでは詳細な解析が困難な場合でも、これら2つの手法を組み合わせることでより詳細な情報が得られます。今回、XRDとXAFSの複合解析によって、HfZrO...

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