- 製品・サービス
19件 - メーカー・取り扱い企業
企業
1件 - カタログ
13件
-
-
-
電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定…
EELS分析とは、電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定する手法です。物質の構成元素や電子構造を分析することができます。 TEMに付属している元素分析装置（EDX)と比較して、下記の特徴があります。 ・EDXに比べて軽元素の感度が良い ・EDXに比べてエネルギー分解能が高い ・EDXに比べて空間分解能が高く、周辺情報を検出し難い ・元素によっては化学状態分析...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…
ある。通常のTEM解析では取得困難な結晶方位マップ、結晶相マップおよび粒径分布などを得ることで定量的な解釈が可能である。さらに、TEM観察と同一視野で測定できることから、(S)TEM-EDX / EELSと合わせた複合的な解析やin-situ TEMとの併用も可能となる。 【目次】 １．はじめに ２．ASTARを用いたACOM-TEM法 ３．ASTARを用いた分析例 ４．まとめ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター
-
-
-
-
材料・構造の受託分析サ－ビスで使用している機械をご紹介しています！
(追加 2022 3月稼働) ■FIB–NOVA×1(Cryo Stage付属) ■TEM–Talos×2(EDX付属) (1台追加 2022 4月稼働) ■TEM–Titan×1(EDX、EELS付属) ■TEM–NEOARM×1(Cs-STEM、EELS、EDX付属) ■Glovebox×1(大気非暴露対応) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業： 日本マーテック株式会社
-
-
-
-
TEM-EELSにより、微小領域の元素同定・化学状態分析が可能です
の異なるアナターゼ型とルチル型が存在します。Si基板上に成膜した厚さ20nmの多結晶TiO2試料（写真1）について電子線プローブを約1nmΦ(FWHM)まで絞って測定を行いました。試料から取得したEELSスペクトルは、Ti, Oともにアナターゼ型TiO2の標準スペクトルと一致しています（図1, 2）。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
Csコレクタ付STEMにより結晶整合性および組成分布の評価が可能
移動度が高くなります。 本資料では、市販のGaN HEMTデバイスを解体し評価した事例をご紹介します。 HAADF-STEMにより、AlGaN/GaN界面近傍の結晶整合性を確認しました。また、EELSにより組成分布の評価を行いました。 測定法：TEM・EELS 製品分野：パワーデバイス 分析目的：構造評価・膜厚評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
高分解能EELSトモグラフィー
は、試料を連続的に傾斜させて撮影した多数の投影像をコンピュータで画像処理し、3次元的内部構造を再構成する手法です。粒子など表面積・体積の算出も可能です。 Csコレクタ付きSTEMで0～180度のEELSマップ連続傾斜像を取得することにより、鮮明な3次元（3D)元素分布を構築することが可能となります。HAADF像の苦手とする平均原子番号の近い複合材料や回折コントラストの強い結晶質などへの適用が期待...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
材料開発を効率化するモデリング・シミュレーションツール
○実験計画の検討に、また実験データを理解するためのツールとして好適 ○電極間電位差予測、原子・分子の安定配置探索等 各種シミュレーションが行える ○各種分析実験(IR, Raman, EELS, ELNES, XANES, XES, NMR等）の 理論的な予測スペクトルが計算できる ○大規模スクリーニングによる高性能候補材料の探索が可能 ※その他機能や詳細については、PD...
メーカー・取り扱い企業： ダッソー・システムズ株式会社
-
-
-
-
アスムスは、原⼦スケールの材料シミュレーション解析サービスを提供してい…
ナイド など 【 主な解析の実績 】 ■電子状態解析 ワイドギャップ半導体酸化表面 / 二次電池電極-電解質界面 / アモルファス酸化物のXPS / 窒化物半導体の電子エネルギー損失分光(EELS) / 希土類磁石界面の磁気相互作用 / SiCらせん転位 / 鉄の水素脆化 / 電子スピン共鳴(ESR, EPR)のgテンソル ■構造探索 電子励起を考慮した構造最適化計算 / 成膜プロセスに...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アスムス
-
-
-
-
負極の断面構造・表面形状、活物質断面の元素マッピング像など複合的にアプ…
池の性能向上のためには、SEI被膜の組成・厚み・化学結合状態の 制御が求められています。 当資料では、車載用電池の炭素系の負極活物質表面に形成されたSEI被膜を SEM,TEM,TEM-EELS,TOF-SIMS,XPSにより評価した事例を紹介しています。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
低加速SEM・計測用/解析用電子線源として使用可能！組込可能な小型電子…
鏡筒で、 既存の装置へ追加する事ができます。 主に大電流密度や低加速を要求される計測や解析(LEED(低速電子回折)、 AES(オージェ電子分光法)、EDS(エネルギー分散分光法)、 EELS(電子エネルギー損失分光法))等に応用できます。 超高真空対応のSPM(走査プローブ顕微鏡)等と組み合わせてお使いください。 【特長】 ■低加速・大電流密度 ■静電型採用の為、漏洩...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アプコ
-
-
-
-
FIB：集束イオンビーム加工
下の原因となっています。そこで従来より低加速(2kV)の加工を行うことでダメージ層が低減でき、像質が改善されました。 FIB低加速加工によりFIB加工面のダメージを低減することで、TEM像観察、EELS測定において高品質で信頼性の高いデータが得られます。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
ナノオーダーの形態観察・元素分析が可能
が可能です。 アイシャドウは固体粒子の集まりなので、そのままTEMによる分析を行いました。 TEM観察後、視野内の特定箇所についてEDX分析を行い、構成元素から材料を推定しました。 さらに、EELS分析により結晶型を区別することが可能です。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…
．結晶配向の解析 ３-３．面内結晶配向の解析 ４．まとめ 【図表】 図１～図７ アニール温度とTMR比の関係 in-situ加熱測定により得られたBF-STEM像とFFTパターンおよびEELSラインプロファイル in-situACOM-TEM測定結果 平面方向のACOM-TEM測定結果...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター
-
-
-
-
コンタクト電極/SiC層の界面の相同定・元素分布評価
SiC材料では、SiだけでなくCを含めた系での材料制御が必須となり、従来のSi半導体の製造方法と違いがあります。コンタクト電極とSiC層のオーミック接合形成プロセスにおいて、TEMを用いたEDX/EELS分析および電子回折から、Cを含めた元素分布や結晶相を評価しました。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
DLC(ダイアモンドライクカーボン)の各種分析が可能！
構造評価 TEM高分解能像観察 Raman TEM-EELS XAFS 組成評価 RBS ERDA (水素分析) 密度評価 XRR RBS ERDA (膜厚) 硬度評価 ナノインデンテーション...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社イオンテクノセンター
-
-
-
-
電池用材料の研究・開発 - Materials Studio
【ホワイトペーパー進呈】電池用材料の研究・開発に活用されるツール！
OVIA』は、 電池用材料の研究・開発に活用できるシミュレーションツールです。 電極間電位差予測、原子・分子の安定配置探索等の各種シミュレーションや 各種分析実験(IR, Raman, EELS, XANES, XES, NMR等)の 理論的な予測スペクトルが計算できます。 さらに、大規模スクリーニングによる高性能候補材料の探索も可能です。 【特長】 ■正負電極・電解質材...
メーカー・取り扱い企業： ダッソー・システムズ株式会社
-
-
-
-
低加速STEM観察とEELS測定による有機材料の分布状態評価
低加速STEM観察とSTEM-EELS面分析により、バルクへテロ接合型太陽電池の活性層の混合状態の評価を行いました。評価にはITO上に活性層のみを成膜した試料を用いました。 低加速STEM像（写真1）のコントラストはSTEM-EEL...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
充電前後の電極の様子およびLiの存在・分布を評価可能
と言われています。 充電前後のSi負極に関して雰囲気制御環境下で解体、観察をしました。更に、FIBマイクロサンプリング法により断面観察用サンプルを作成し、Csコレクタ付きSTEM装置で形状観察とEELS測定を行い、Si電極の様子と電極中のLi分布を評価しました。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
30nmから5μmの切片作製が可能！材料系解析事例を複数ご紹介した資料…
、変色、残渣、凹凸、破面 ・光学顕微鏡、SEM、EDX、AES、X線回折、AFMなど ■断面分析：組織、膜厚、拡散、酸化、表面変質 ・光学顕微鏡SEM、EDX、AES、TEM、STEM、EELSなど ※断面加工方法：切断、劈開、機械研磨、CP加工、FIB加工など ■深さ方向分析：膜組成、拡散、表面酸化、変色、表面変質 ・AES、XPS、GD-OES ※詳しくはPDF資料を...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所
-
- 表示件数
- 45件
- < 前へ
- 1
- 次へ >