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    電動ピペット『Picus 2』20%OFF下取りキャンペーン中

    PR人間工学に基づいた、快適なピペッティングを実現!20%OFF下取りキャ…

    日々の基礎研究において欠くことのできないピペット。 研究ルーティーンで使用するツールだからこそ、効率的に使える設計を実現したいものです。 『Picus 2』電動ピペットは、手に優しい人間工学に基づいたデザインで、信頼性と再現性の高いピペッティング結果を保証します。 『Picus 2』をモバイルデバイスに接続すると、 ザルトリウスピペッティングモバイルアプリを使用してサンプル調製ワークフローをスム...

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    メーカー・取り扱い企業: ザルトリウス・ジャパン株式会社

  • 【有機EL解析に最適】TOF-SIMS新分析サービス開始 製品画像

    【有機EL解析に最適】TOF-SIMS新分析サービス開始

    有機成分を壊さず深さ方向分析が可能になりました! 従来より空間分解能…

    有機ELの小さな画素など狭い領域を狙って測定を行う場合、従来のTOF-SIMS測定では深さ方向の評価が困難でした。 MSTでは測定条件を改良することで、有機成分を壊さず狭い領域の分析が可能となりました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】はんだ剥離部断面のTOF-SIMS分析 製品画像

    【分析事例】はんだ剥離部断面のTOF-SIMS分析

    微小領域の無機・有機物の分布評価が可能です

    はんだの剥離原因究明には、はんだと基板界面の成分分析を行うことが有効です。 TOF-SIMSは元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にできることや、イメージ分析が可能なことから、剥離部の評価に適した手法です。 本資料では、はんだの剥離部断面を分析した事例を示します。基...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】TOF-SIMSによる毛髪の評価 製品画像

    【分析事例】TOF-SIMSによる毛髪の評価

    目的に応じた毛髪成分の評価が可能です

    TOF-SIMSは元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にでき、またイメージ分析が可能であることから、試料中の着目成分の分布・浸透具合の解析に有効な手段です。 毛髪に対して測定法と加工を組合わせることで、毛髪の表面や断面、深さ方向への分布と様々な視点からの評価が可能で、目的に応じた毛髪中の成分比較や浸透性評価を行うことができます。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法 製品画像

    TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法

    試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であるこ…

    試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です。 スパッタイオン源を用いて、深さ方向に無機・有機物の分布分析が可能です。 ・有機・無機化合物の構造解析・同定が可能 ・異物検査装置の座標データとリンケージが可能 ・ミクロンオーダーの微小異物から数cmまでの定性が可能 ・最表面を感度よく分析することが可能 ・イメ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ご希望者全員プレゼント!表面分析の基礎と受託分析事例 製品画像

    ご希望者全員プレゼント!表面分析の基礎と受託分析事例

    〈XPS・TOF-SIMS〉 表面分析とは何か・表面分析の種類等、基…

    ★掲載内容★  ■表面分析の基礎    ・表面分析とは?    ・表面分析の使い分け    ・XPS分析でできること    ・TOF-SIMS分析でできること    ・XPS,TOF-SIMS分析でできること  ■各手法の詳細情報    ・XPS X線光電子分光法    ・TOF-SIMS 飛行時間型二次イオン質量分析...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 生体材料のイメージング質量分析法(IMS)の受託分析 製品画像

    生体材料のイメージング質量分析法(IMS)の受託分析

    TOF-SIMSとMALDI-MSの両方を組み合わせた脂質のイメージン…

    TOF-SIMSおよびMALDI-MSはいずれもイメージング質量分析(IMS:Imaging Mass Spectrometry)が可能な手法で、得意とする成分や質量、空間分解能が異なります。TOF-SIMSでは低質量成分を得意とし、高い面分解能でイメージングが可能です。一方、MALDI-MSでは高質量成分を得意とし、イメージングが可能な脂質の種類が豊富です。ここではマウス精巣中における脂質のイメージン...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】撥水箇所の成分分析 製品画像

    【分析事例】撥水箇所の成分分析

    TOF-SIMSは複数成分の広域イメージング評価が可能です

    密着不良などの不具合の原因を探るためには、ウエハやデバイスの表面の知見を得ることは重要です。今回、シリコンウエハ上に撥水箇所が確認されたため、TOF-SIMSで広域イメージングを実施しました。その結果、撥水箇所からはシリコーンオイル、CF系グリース、パラフィンオイルと推定される成分が確認されました。TOF-SIMSは通常500μm角までの測定...

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  • 【分析事例】ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価と酸化膜厚評価 製品画像

    【分析事例】ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価と酸化膜厚評価

    TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能

    テンレス(SUS)は耐食性に優れ、様々な工業製品・部品として使用されています。腐食に強い材料ですが、経年劣化や加工処理によって表面不動態皮膜の組成に変化が生じると不具合の原因につながります。今回、TOF-SIMSを用いてステンレス表面の金属酸化膜の状態について分析した事例をご紹介します。TOF-SIMSでは酸化物状態として分子情報を高感度に得ることで、表面数nm~数十nmの酸化物の分布を得ること...

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  • 【分析事例】めっき・塗装等の剥離原因調査 製品画像

    【分析事例】めっき・塗装等の剥離原因調査

    TOFーSIMSによる剥離面の汚染源の特定

    剥離不良が起こった際、界面の密着性を悪化させた成分を同定することが重要です。 ピーリング加工により、着目の界面で物理的に剥離させ、その表面に存在する成分をTOF-SIMSによって測定することで、剥離原因を調査することが可能です。 TOF-SIMSは有機物の構造を保ったままイオン化した二次イオンを検出し、剥離面に存在した成分が何由来なのかの情報を得ること...

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  • 【分析事例】セラミックスの変色原因評価 製品画像

    【分析事例】セラミックスの変色原因評価

    TOF-SIMSでは無機材料の変色原因のイメージングが可能

    ックスは日用品から電子部品まで幅広く利用されている無機化合物材料です。不純物や付着物により生じるセラミックスの変色評価には、着目箇所について有機物・無機物を問わず微量成分のイメージング分析が可能なTOF-SIMS分析が有効です。 本資料ではAl酸化物のセラミックス変色部分をTOF-SIMSで分析し、イオンイメージとラインプロファイルで変色原因を示した事例を紹介します。 測定法:TOF-SIM...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】有機EL(OLED)の材料構造評価 製品画像

    【分析事例】有機EL(OLED)の材料構造評価

    1画素ごと、各層ごとに成分を同定することが可能です

    今後需要が拡大する有機ELの信頼性向上のため、詳細な構造解析や状態分析、劣化原因の特定がさらに重要となります。TOF-SIMSとLC/MSを用い、層構造や材料を評価した事例をご紹介します。 TOF-SIMSにより、層構造と各層の成分情報を評価できました。TOF-SIMSで明らかになった質量Eの成分についてLC...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】表面分析による品質管理 製品画像

    【分析事例】表面分析による品質管理

    表面の付着成分(ポリジメチルシロキサンなど)をTOF-SIMSで評価で…

    TOF-SIMS(飛行時間型二次イオン質量分析法)は、最表面の有機物・無機物を感度よく評価可能な手法で、製品の様々な品質管理を行うときの分析手段として利用することができます。例えば、製品保管時の表面付着物の定期的な確認、製品に剥離・変色などの不具合品が発生した際の原因調査、製作条件を変えた前後での着目成分の変化などです。本資料では、付着成分として代表的なポリジメチルシロキサン(PDMS)について、保管環...

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  • 【分析事例】光ファイバーのコアとクラッドの定性評価 製品画像

    【分析事例】光ファイバーのコアとクラッドの定性評価

    TOF-SIMSにより光ファイバーの材料の定性・分布評価が可能です

    伝達します。そのため、それらの材料の選択、不純物の有無、密着性、被覆状態、付着物などを分析することが重要となります。光ファイバーは、大きく分けてプラスチック製、石英製の2つがあります。本資料では、TOF-SIMSでプラスチック製光ファイバーの断面を分析することにより、コアおよびクラッドの材料を同定した事例を紹介します。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:光ファイバー・電子部品 分析目的:...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】銅(Cu)表面自然酸化膜の層構造・膜厚評価 製品画像

    【分析事例】銅(Cu)表面自然酸化膜の層構造・膜厚評価

    TOF-SIMSによる深さ方向の状態評価

    れており、このような銅表面は大別して「Cu」「Cu2O」「CuO」「Cu(OH)2 」の状態にわけられることが知られています。 市販の標準品である「Cu2O」「CuO」「Cu(OH)2 」粉末をTOF-SIMSにより深さ方向分析を行うことで、各状態に応じて特徴的な分子イオンの取得が可能であることがわかりました。 これらの分子イオンを用いて、金属Cu表面自然酸化膜の深さ方向の状態評価が可能とな...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】血液成分の洗浄残渣評価 製品画像

    【分析事例】血液成分の洗浄残渣評価

    TOF-SIMSによる拭き取り残渣の可視化

    今回は医療機器の拭き取り方法の検証実験として、血液モデル薬物のウシ血清アルブミン(BSA)をアセチルセルロース(TAC)のシート・SUS製メス・ガラスにそれぞれ塗布し、拭き取り前後の成分残渣評価をTOF-SIMSで行いました。その結果、BSAの拭き取りには水よりもエタノールの方が適していることや、基質によって拭き取り効果が異なることがわかりました。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:医療機...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】雰囲気制御下での有機金属錯体の定性分析 製品画像

    【分析事例】雰囲気制御下での有機金属錯体の定性分析

    酸化の影響を受けない条件でTOF-SIMSによる質量分析が可能です

    エポキシ化に欠かせない試薬であり、大気下では酸化の影響を受けます。 今回、チタンテトラアルコキシド(チタンテトライソプロポキシド)について、雰囲気制御下と大気暴露後において、どのように変化するかTOF-SIMSを用いて調べた事例を示します。 MSTでは雰囲気制御により、大気酸化の影響を受けずに錯体の評価が可能です。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:バイオテクノロジ・医薬品・化粧品・日...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】毛髪のキューティクル表面の成分分布を可視化 製品画像

    【分析事例】毛髪のキューティクル表面の成分分布を可視化

    有機分子の分布をTOF-SIMSイメージ分析で比較

    TOF-SIMSは元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にできることや、イメージ分析が可能なことから、試料中の着目成分の分布・浸透具合の解析に有効な手段です。 本資料では、シロキサン系のヘアケア剤を用いた毛髪の「断面および表面」と、毛髪の「表面」をイメージ分析した結果を示します。毛先表面と根本表面のキューティクルには、成分分布状態に違いがあることが確認できました。 測定法:TOF-SIM...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】二次電池 負極粒子表面の分布評価 製品画像

    【分析事例】二次電池 負極粒子表面の分布評価

    一粒の粉体表面に分布する成分の評価が可能

    リチウムイオン二次電池で使用される黒鉛負極粒子を塗布したシートを、TOF-SIMSにて分析した事例をご紹介します。一粒の粉体の表面にグラファイトとPVDFが分布している様子が確認できました。 飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)は、二次イオンのマススペ...

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  • 【分析事例】アルミニウム(Al)表面のOHの分布、状態評価 製品画像

    【分析事例】アルミニウム(Al)表面のOHの分布、状態評価

    TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捕らえることが可能

    アルミニウム電極表面のOHやフッ化物は電極の腐食原因の一つであり、アルミニウム表面の状態を調査することは不良原因の調査に欠かせません。TOF-SIMSは最表面での深さ方向分解能に優れ、無機物の状態をモニターしながら高感度に深さ方向分布を測定することが可能です。OHと併せて深さ方向分布を評価することで、酸化膜厚の変化を伴わずにOHが増加...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】骨断面の組成分布評価 製品画像

    【分析事例】骨断面の組成分布評価

    マウスの脛骨断面の組成分布をTOF-SIMSにより可視化

    マウス脛骨の成分分布を評価するため、脛骨の切片を作成しTOF-SIMSによるイメージング分析を行いました。マウス由来成分であるK・Ca・リン酸Ca・リン脂質の分布が確認できました。 TOF-SIMSは成分を分子イオンの質量から同定するため、蛍光物質などの...

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  • 【分析事例】プラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査 製品画像

    【分析事例】プラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査

    TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の最表面の評価…

    細胞培養シャーレの表面では、細胞の密着性(接着性)を高めるために、疎水性のプラスチック表面を親水性に変える処理が行われています。今回、親水処理を行ったシャーレの表面についてXPS,TOF-SIMSで評価した結果、OH,CHOが増加していることがわかりました。XPSで定量的な評価を行い、TOF-SIMSで定性的な評価を行うことで、表面がどのように変化したかを捉えることが可能です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】エタノールをつけた綿棒の残渣分析 製品画像

    【分析事例】エタノールをつけた綿棒の残渣分析

    TOF-SIMSにより光学顕微鏡で見えないシミや洗浄残渣の分析が可能

    一般的に汚れを落とすために、綿棒にエタノールをつけ拭き取ることがあります。エタノールをつけた綿棒でSiウエハ表面を拭いた際、表面に何が分布するのかTOF-SIMSを用いて分析を行いました。 エタノールをつけた綿棒で拭いたSiウエハには、光学顕微鏡でみられないシミが分布しており、綿棒に起因することがわかりました。TOF-SIMSでは光学顕微鏡で見...

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  • 【分析事例】粘着テープの残渣評価 製品画像

    【分析事例】粘着テープの残渣評価

    TOF-SIMSにより表面付着物成分を同定します

    粘着テープの残渣は、製造工程において密着不良・剥離の原因となります。不良の原因として残渣が疑われる場合、表面付着物の成分とその分布を調べることができるTOF-SIMSが有効です。 粘着テープをSiウエハ表面に張り、剥がした後のSiウエハ表面および粘着テープの表面をTOF-SIMSで測定した事例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 無アルカリガラス中の金属不純物の定性と定量評価 製品画像

    無アルカリガラス中の金属不純物の定性と定量評価

    TOF-SIMS、D-SIMS:二次イオン質量分析法

    半導体製造工程において、不純物混入は特性や製造歩留まりの低下につながるため、早急な不純物元素の特定および量の把握が重要です。 MSTではTOF-SIMS(Static-SIMS)で不純物元素を定性し、検出された元素をD-SIMS(Dynamic-SIMS)で深さ方向へ定量するという、デバイス中の不純物評価が可能です。 本件では、無アル...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【事例】GCIBを用いたSiO2中アルカリ金属の深さ方向濃度分布 製品画像

    【事例】GCIBを用いたSiO2中アルカリ金属の深さ方向濃度分布

    SiO2膜の不純物の評価

    各種故障原因の要の元素です。これらは測定時に膜中を移動してしまう可動イオンと言われており、正確な分布を得ることが困難とされてきました。 今回、スパッタイオン源にGCIB(Arクラスター)を用いたTOF-SIMSの深さ方向分析を行うことにより、常温下の測定でもアルカリ金属の移動を酸素スパッタガンに比べ抑えられることがわかりました。この測定を行うことで、SiO2膜中の不純物について定性・定量分析を...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】微小ビアのイメージ分析 製品画像

    【分析事例】微小ビアのイメージ分析

    微小領域の分布評価が可能です

    回路の微細化にともない微小化する層間接続ビアの設計開発では、充填の良好性を把握することが求められます。TOF-SIMSは元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にできることや、イメージ分析が可能なことから、出来ばえ評価に有効な手段です。 本資料では、Si基材に設けられた0.5μmφ程度のビアに、...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】薄いカーボン膜の深さ方向分析 製品画像

    【分析事例】薄いカーボン膜の深さ方向分析

    ダイヤモンドライクカーボン(DLC)やグラフェンの深さ方向分析が可能

    TOF-SIMSは深さ方向に質量スペクトルの取得が可能であるため、各層の定性を行うことで非常に薄い層の成分の解析が可能です。 本事例では、ハードディスクを深さ方向に分析を行いました。その結果、表面に形成されるダイヤモンドライクカーボン(DLC)層は2層構造となっており、表面側では窒素が含まれるC層、奥側でCのみの層となっていることが分かりました。この方法を応用して、グラフェン膜の深さ方向分析も可能です...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】生体材料中成分の分布状態の可視化 製品画像

    【分析事例】生体材料中成分の分布状態の可視化

    生体材料の切片作製から分析までまとめて承ります

    本資料では、マウスの脳・心臓・肝臓・腎臓・歯の組織についてそれぞれ断面切片を作製し、TOF-SIMSでイメージングしました。イメージング領域は約10μm~数cmオーダーまで可能で、着目に合わせて分解能良く分析することができます。生体の各器官に合わせて切片作製を行い、成分をイメージングす...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】セラミックス表面における洗浄成分の分布評価 製品画像

    【分析事例】セラミックス表面における洗浄成分の分布評価

    洗浄成分の分布の可視化や深さ方向の分布の評価が可能

    のため、セラミックスの機能を判断するうえで、表面状態を適切に評価することは重要です。 本資料ではZr酸化物からなるセラミックス表面のぬれ性に寄与する洗浄成分について、表面分布および深さ方向分布をTOF-SIMSで評価した事例を紹介します。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:製造装置・部品 分析目的:定性・分布評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験

    加熱劣化後のサンプルをLC/MS/MS,TOF-SIMS,TEM+ED…

    劣化機構の解明が重要です。今回は、温度による劣化機構についての評価のために、加熱劣化試験を行いました。加熱劣化試験後、大幅な容量低下が見られたサンプルについて、電解液をLC/MS/MS、負極表面をTOF-SIMS、負極断面をFIB-TEM+EDXで評価しました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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