• なぜおこる?袋体が固まる理由と対処策方法 製品画像

    なぜおこる?袋体が固まる理由と対処策方法

    PR素材別粗砕実績表進呈中!粗砕機を使って固結した袋体材料をらくらく粉砕処…

    “なぜ袋体は固まるのか”ご存知でしょうか? 固結には、真正固結と疑似固結の2種類があります。 含水率や吸湿性などの内部的要因や、大気の相対湿度や包装時の温度などの外部的要因等が原因に御座います。 シンコー化成が取り扱う『モミクラ』は、固まった粉体材料を袋や段ボールから出さずに1袋あたり4秒で粉に戻せる袋体粗砕機です。 オイルをさすだけの楽々メンテナンス。人による粗砕作業をカット...

    メーカー・取り扱い企業: シンコー化成株式会社

  • 麹菌発酵による高吸収型イソフラボン「アグリマックス(R)」 製品画像

    麹菌発酵による高吸収型イソフラボン「アグリマックス(R)」

    PR大豆胚芽+独自の麹菌発酵製法で生まれたアグリコン型イソフラボン。25年…

    独自の発酵技術によって、大豆胚芽のみを麹菌発酵させ製造しております。 大豆胚芽に多く含まれるダイゼインは穏やかに作用するため、副作用リスクが非常に低く、安全に摂取することができます。 また、ほかの大豆イソフラボンと比較しても、アグリマックスは更年期症状の緩和だけでなく、抗酸化や美容、妊活、エクオール産生能向上、男性の前立腺肥大などに対しても様々なデータがございます。 無償原料サンプルもございます...

    メーカー・取り扱い企業: ニチモウバイオティックス株式会社

  • クライオ加工 製品画像

    クライオ加工

    やわらかいサンプルを冷却、硬化させ切削可能に

    徴 ・柔らかいサンプルを冷却することで硬化して切削可能 ・液体窒素付近の温度まで冷却することが可能 ・サンプル・雰囲気・ミクロトーム刃の温度はそれぞれ独立して設定可能 ・主に常温では柔らかい材料(生体試料・高分子材料など)の加工に有効で、ゲル状材料なども冷却することにより加工できる場合がある...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】有機膜材料の配向角評価 製品画像

    【分析事例】有機膜材料の配向角評価

    XAFS:X線吸収微細構造

    である自己組織化単分子膜(SAM膜)は表面の濡れ性や吸着性といった膜の機能・物性が配向性・配向角によって変化します。 放射光を用いたXAFSでは、ピーク強度のX線入射角依存性を解析することで有機膜材料の配向性・配向角の評価を行うことが可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 絶対PL量子収率測定 製品画像

    絶対PL量子収率測定

    絶対PL量子収率測定は、材料の発光効率を求める手法です。

    絶対PL量子収率測定は、材料に吸収された光(エネルギー)に対し、どのくらいの効率で発光が得られるか、つまり材料の発光効率を求める手法です。 ・分光器付きの励起光源を用いているため、様々な波長(約350~800nm)での励...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池 セパレータの評価 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池 セパレータの評価

    サンプルを冷却しセパレータの形状をより正確に評価

    電池の主要構成材料であるセパレータは、この材料の多孔性・形状等が電池の特性・安全性を左右します。現在主流のポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)、あるいはその複合材料等高分子系材料は軟化点が低くPEでは125℃...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [GDMS]グロー放電質量分析法 製品画像

    [GDMS]グロー放電質量分析法

    特定の質量イオンを解離・フラグメント化させ、質量分析計で検出

    目的元素のイオン強度と、RSFから算出した値であり、半定量値です。 ・微量元素(ppbレベル)から主成分レベルまでのバルク分析が可能 ・μmオーダーの深さ方向分析、薄膜分析が可能 ・導電性材料、及び補助電極を用いることで半導体材料、絶縁物材料も分析が可能 ・質量分解能が高く、妨害イオンの除去が可能 ・水素と希ガスを除く、Li以下のほとんどの元素について測定が可能 ・同位体比測定が可...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】2次元検出器を用いたX線回折測定 製品画像

    【分析事例】2次元検出器を用いたX線回折測定

    XRD:X線回折法

    2次元検出器を用いて測定を行うと、回折角(2θ)に加えてあおり方向(χ)の情報も同時に得られます。観測される2次元回折像は材料の結晶性や配向性などの特徴を可視化することが出来るため、配向性が特性に影響する材料の評価に有効です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • EMS分析(エミッション顕微鏡法) 製品画像

    EMS分析(エミッション顕微鏡法)

    故障箇所を迅速に特定

    導体デバイスの異常動作に伴い発生する微弱な発光を検出することで、故障箇所を迅速に特定できる手法です。EMMS、PEM、EMIとも呼ばれます。 ・測定波長領域(可視域から近赤外域)に対して透明な材料のみ評価可能 ・クラック・結晶欠陥・ESDによる酸化膜破壊・Alスパイクによるショートなどの内部の欠陥を低損傷で捉えることが可能...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [IP法]Arイオン研磨加工 製品画像

    [IP法]Arイオン研磨加工

    IP法は、研磨法の一種でイオンビームを用いて加工する方法です

    IP法は、エネルギー及び方向を揃えたイオンビームを試料に照射したときに試料表面から試料原子が弾き飛ばされるスパッタリング現象を利用して、試料表面を削り取る方法です。 イオン種は通常試料との化学反応の心配のない希ガス(MSTではAr)が用いられます。加工面のAES分析では遮光板成分(Ni,P)は検出下限以下でした。...カードエッジコネクタについてIP加工後、反射電子像観察を行いました。 IP法...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [SAXS]X線小角散乱法 製品画像

    [SAXS]X線小角散乱法

    ・ナノスケールでの周期構造・配向性を評価可能

    0°以下の低角領域に現れるものを測定し、物質の構造を評価する分析手法です。通常、数nm~数十nm程度の大きさの構造を評価できます。 ・ナノスケールでの周期構造・配向性の評価が可能 ・微粒子や材料中の空孔分布を評価することが可能 ・タンパク質など生体材料の評価が可能 ・サンプルを加熱して評価することが可能...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】熱分解GC/MSダブルショット法による添加剤の同定 製品画像

    【分析事例】熱分解GC/MSダブルショット法による添加剤の同定

    TG-DTAとGC/MSを用いた複合解析

    TG-DTA(熱重量-示差熱)分析とGC/MS分析を併用することで、最適な温度条件を選んで未知の高分子材料及び含有する揮発性有機化合物をそれぞれ同定することが可能です。市販製品のプラスチック部分の熱分解温度を調べ、熱分解温度以下での緩やかな昇温(熱脱着法)と、その後の高温での瞬間加熱(熱分解法)の2条件...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】HfZrOx膜の結晶構造同定・含有割合の算出 製品画像

    【分析事例】HfZrOx膜の結晶構造同定・含有割合の算出

    XRD・XAFSによる複合解析で、より詳細な評価が可能

    high-k材料や強誘電体として注目されているHfZrOx膜は、結晶構造によって誘電率等の物理的性質が大きく変化することから、結晶構造の同定・各結晶構造の含有割合の算出が重要な評価項目です。 通常XRDやXAFS...

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  • ご依頼からの流れ 製品画像

    ご依頼からの流れ

    ご依頼から納品までの流れをまとめました。

    525まで、お気軽にどうぞ。 ↓ ◆お打ち合わせ・お見積もり MST営業担当があなたの元へお伺いして打ち合わせ後、お見積書を発行します。 ↓ ◆サンプル受け渡し 分析する材料・製品は、お打ち合わせ時に直接お預かり可能です。 宅配便でお送りいただくことも可能です。 ↓ ◆分析 熟練の専門スタッフが分析を行います。 ↓ ◆速報データ 分析結果を...

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  • [FIB]集束イオンビーム加工 製品画像

    [FIB]集束イオンビーム加工

    FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

    FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり(スパッタ)、特定領域に炭素(C)・タングステン(W)・プラチナ(Pt)等を成膜することが可能です。また、イオンビームを試料に照射して発生した二次電子を検出するSIM像により、試料の加工形状を認識できます。 ・微小領域(数nm~数十μm)のエッチングによる任意形状加工が可能 (通常...

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  • PV(太陽電池)各種評価事例集 製品画像

    PV(太陽電池)各種評価事例集

    太陽電池(PV)の組成評価や同定・膜圧評価・形状評価・結晶構造評価など…

    電池展)展示会にご来場いただけなかった方、MSTブースにお立ち寄りいただけなかった方、もう一度MSTの展示会資料をご覧になりたい方、ぜひご覧ください。 太陽電池の研究・開発・製造に必要な部品・材料、装置、セル・モジュールが一堂に出展する展示会『PV EXPO 2013』で使用したパネル資料全6枚のご紹介です。 [掲載内容] 有機薄膜太陽電池の活性層の組成分布評価や、電極直下のドーパ...

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  • [DSC]示差走査熱量測定 製品画像

    [DSC]示差走査熱量測定

    DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評…

    DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評価することができます。 ・ 融点・結晶化温度・ガラス転移温度・キュリー点・比熱などを確認することができます。 ・ 結晶化度・純度・反応速度及び結晶化速度などの測定に応用が可能です。 ・ 氷点下から測定できるため、自由水・結合水の評価が可能です。...熱流束型DSCは基準物質とサンプルを同時に加熱した時の温度差を連続的に...

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  • よくあるご質問(FAQ) サンプルについて 製品画像

    よくあるご質問(FAQ) サンプルについて

    サンプルについて、よくお問い合わせいただくご質問を、FAQ形式でまとめ…

    ご不明な点は何なりとお問い合わせください。...◆サンプルは返却してもらえますか? →基本的に全て返却いたします。加工を施したサンプルについては一部返却できないものがあります。 ◆サンプルはどこに送ればよいですか? →担当宛にお送りください。担当が不明の場合にはサンプル受付係宛てにお送りください。 〒157-0067 東京都世田谷区喜多見1-18-6 ◆サンプルを取りに来てもらう...

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  • EBSD分析(電子後方散乱回折法) 製品画像

    EBSD分析(電子後方散乱回折法)

    容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

    EBSDを利用して結晶性試料の方位解析ができる手法です。 電子回折法より容易にかつ広い領域の結晶情報を得ることができます。 EBSP:Electron Backscatter Pattern、SEM-OIM、OIMとも呼ばれます。 ・単一結晶粒の面方位の測定が可能 ・測定領域の配向測定が可能 ・結晶粒径観察が可能 ・双晶粒界(対応粒界)観察が可能 ・特定結晶方位の抽出が可能 ・...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 血液中PFAS (PFOS/PFOA/PFHxS)の検査サービス 製品画像

    血液中PFAS (PFOS/PFOA/PFHxS)の検査サービス

    血液中のPFAS濃度を測定する検査サービスを、2024年6月より開始し…

    近年、有機フッ素化合物(以下、PFAS)による環境汚染や人への曝露(ばくろ)が注目されています。 PFAS曝露状況を把握するためには、血液検査の実施が重要です。 【検査項目】 1. PFOS、PFOAの簡易定量検査 2. 特定PFAS(PFOS、PFOA、PFHxS)、PFNAの精密定量検査 3. オーダーメイド検査(PFOS、PFOA以外のPFAS類の検査) ※要相談 ◇検査...

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  • [SSDP用加工]基板側からの測定用加工 製品画像

    [SSDP用加工]基板側からの測定用加工

    基板側からの測定ができるように基板を削って薄片化

    二次イオン質量分析法(SIMS)では、試料表面の凹凸、イオン照射により表面側に存在する原子が奥側に押し込まれるノックオン効果やクレーター底面粗れ等の現象により、急峻な元素分布を得られない場合があります。この問題を解決するために、薄片化加工を行った基板側(裏面側)からSIMS分析を行うのがSSDP法(Back-Side SIMS法)です。この手法により、試料形状や測定条件に起因する影響を受けることな...

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  • OBIRCH分析(光ビーム加熱抵抗変動法) 製品画像

    OBIRCH分析(光ビーム加熱抵抗変動法)

    OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗…

    OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗が変化することを利用して、異常箇所の特定を行う手法です。 ・配線やビア内のボイド・析出物の位置を特定可能。 ・コンタクトの抵抗異常を特定可能。 ・配線ショート箇所を特定可能。 ・DC電流経路を可視化。 ・ゲート酸化膜微小リークを捉えることが可能。...1.レーザを被観察領域に走査する。レーザ照射された配線部位は温度...

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  • [AES]オージェ電子分光法 製品画像

    [AES]オージェ電子分光法

    試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類・存在量の評価

    AESは、電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面(数nm程度の深さ)に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得る手法です。 ・固体材料の表面(深さ数nm)の定性・定量が可能 ・微小領域(数十nm~サブミクロン程度)の定性・定量が可能 ・主成分元素の深さ方向分析・線分析・面分析の測定が可能 ・SiやAl等、幾つかの元素について...

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  • 雰囲気制御下での処理 製品画像

    雰囲気制御下での処理

    サンプル本来の状態を評価することが可能

    ■特徴 ・雰囲気(水分・酸素)を制御したグローブボックス内でサンプルを扱うことで、反応性の高いサンプルについても変質・変化を最小限に抑えることが可能 ・雰囲気制御下での切断・剥離・測定面出し加工により、大気の二次汚染・酸化を抑えることが可能 ・大気に暴露すること無く、評価装置に搬送・移動することが可能 適用可能な手法:SIMS、XPS、SEM、TEM、STEM、FIB、AES、XRD、Ra...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [UPS]紫外光電子分光法 製品画像

    [UPS]紫外光電子分光法

    試料表面の組成の定性・定量や仕事関数評価に

    UPSは、紫外光照射により放出される電子の運動エネルギー分布を測定し、試料極表面(数nm程度以下)の価電子状態に関する知見を得る手法です。その一方で、高いエネルギー分解能を利用して各種金属材料の仕事関数評価にも用いられています。 XPS分析と併せて測定が可能なため、試料表面組成の定性・定量や結合状態と仕事関数値との相関を調べることが可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【有機EL解析に最適】TOF-SIMS新分析サービス開始 製品画像

    【有機EL解析に最適】TOF-SIMS新分析サービス開始

    有機成分を壊さず深さ方向分析が可能になりました! 従来より空間分解能…

    有機ELディスプレイは近年、画質の高精細化のために配列が祖が微細化されていく傾向が見られています。 MSTでは、有機ELの開発において必須となる有機EL層の膜構造を精度よく評価可能な新サービスを開始しました。...有機ELの小さな画素など狭い領域を狙って測定を行う場合、従来のTOF-SIMS測定では深さ方向の評価が困難でした。 MSTでは測定条件を改良することで、有機成分を壊さず狭い領域の分析...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】化学修飾XPSによる水酸基の定量 製品画像

    【分析事例】化学修飾XPSによる水酸基の定量

    高分子フィルムの水酸基評価

    高分子フィルムの接着性や濡れ性といった特性を制御するにあたって、表面に存在する極性官能基(アルコール基)を定量的に評価することは非常に重要です。XPSは定量的な評価に最適ですが、ピーク位置が隣接している酸化状態(C-O-C)と水酸化状態(C-OH)を切り分けて定量することが困難です。 MSTではポリビニルアルコール(PVA)について化学修飾法を用いてアルコール基のみを選択的に反応させた後に、XP...

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  • 【分析事例】オリーブオイルの3D蛍光スペクトルと多変量解析 製品画像

    【分析事例】オリーブオイルの3D蛍光スペクトルと多変量解析

    発光特性の解析から試料の比較が可能です。

    3D蛍光スペクトルは励起波長、蛍光波長、蛍光強度の3種類の情報を持ち、蛍光指紋とも呼ばれます。蛍光光度計は感度が高く、また3D蛍光スペクトルは情報量が多いという特徴を有しており、食品や化粧品、日用品、環境排水等の分析への応用が期待されています。3D蛍光スペクトルの解析に多変量解析を使用することで、データの次元を圧縮・削減し特徴を可視化して捉えることが可能です。本資料ではその一例として、オリーブオイ...

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  • 【分析事例】二次電池正極活物質の劣化評価 製品画像

    【分析事例】二次電池正極活物質の劣化評価

    結晶構造から活物質の劣化状態を評価

    リチウムイオン二次電池の正極活物質のLiCoO2は充放電時のリチウムのインターカレーションにより結晶の面間隔等が変化します。また過充電や長期サイクル試験により組成や結晶構造が大きく変化して充放電特性の低下が起きることが知られています。今回はXRDやRaman分光法を用いることでそれらを評価した事例を紹介いたします。更にin situ(オペランド)XRD測定を行うことで、各充電状態(SOC:Stat...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池負極の劣化評価 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池負極の劣化評価

    電池セルの作製・劣化試験・解体・劣化による状態変化の調査まで一貫評価

    正極にLiCoO2、負極にグラファイト、電解液にLiPF6/EC:DECを用いて作製した電池セルを60℃の恒温槽にて4.2V充電状態で約1週間放置する劣化試験を行いました。その後、Ar雰囲気中で解体・洗浄し、負極グラファイトのTOF-SIMS分析を行いました。 試験前ではバインダおよび電解質塩由来のフラグメントが確認され、試験後では電解質塩の劣化により生成したと考えられるLi3PO4やPF3Oお...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【クライオSEM分析】液体中微粒子の分散状態を評価 製品画像

    【クライオSEM分析】液体中微粒子の分散状態を評価

    急冷凍+SEM観察により、粒子が分散している様子を画像で確認! ★第…

    液体に分散させて用いる微粒子の粒径・構造を評価する際、液体を乾燥させて粉体として微粒子を取り出し、電子顕微鏡を用いての測定が一般によく行われています。 しかしながら、乾燥による分散状態の変化や粒子の変形が起こるため、どのように分散しているのかを調べるには不向きな測定法です。 MSTでは、液体試料内で微粒子がどのように分散しているかを直接評価するため、クライオ加工+SEM分析(クライオSEM...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SiGe中不純物の高精度定量評価 製品画像

    【分析事例】SiGe中不純物の高精度定量評価

    SIMS:二次イオン質量分析法

    SIMSによる半導体素材SiGeの不純物の定量・組成評価では、分析時に下記を考慮する必要があります。 ●Ge濃度に応じた適切な定量補正を行わないと不純物定量値は本来の値に比べて50%以上異なることがある。定量評価を行うためには各組成に応じた標準試料が必要。 ●SiとSiGeではスパッタリングレートが異なる事が知られている。組成が深さごとに異なる試料においては、深さごとにスパッタリングレート...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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