オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 CalibratARマイクロスケール 3D校正用リファレンス
- 最終更新日：2020-02-12 12:37:08.0
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AFMを校正するためのAFM/SPM校正基準と標準サンプル
CalibratAR校正用リファレンスは、多様な顕微鏡の評価や校正などの目的に使用できます。その適用範囲は、走査型プローブ顕微鏡、原子間力顕微鏡、電子顕微鏡、光学顕微鏡、さらにはスタイラスや光学プロファイラーなど多岐にわたります。３次元の評価のために、リファレンスのサンプルデザインには３つの直交方向の形状を組込んでいます。
基本情報CalibratARマイクロスケール 3D校正用リファレンス
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取扱企業CalibratARマイクロスケール 3D校正用リファレンス
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当社の事業グループには、EDS/EDXに代表される電子顕微鏡用分析装置を提供する分析機器事業部をはじめ、多様な光学イメージングソリューションを提供するアンドール・テクノロジー事業部、原子間力顕微鏡で評価の高いアサイラム・リサーチ事業部、ラマン顕微鏡のビーテック事業部、当社で最も長い歴史をもつ低温・超電導事業部などが含まれます。
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