オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 MFP-3D 原子間力顕微鏡用 サンプルマウント
- 最終更新日：2020-02-19 12:02:48.0
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MFP-3D AFM/SPMシステム対応の、多種多様なサンプルマウント
MFP-3D AFM/SPM システムで利用可能なサンプルマウントを各種取り揃えております。取り扱いも簡単。全てのマウントは１mm厚スライドガラスと同様に、MFP-3Dスキャナ上にフィットします。またMFP-3D AFM/SPMシステムに付属の磁石と一緒に使用できます。
基本情報MFP-3D 原子間力顕微鏡用 サンプルマウント
【仕様】
○電気コンタクトサンプルホルダ
○フィリップSEMマウントホルダ、12mm
○日本電子SEMマウントホルダ、10mm
●その他機能や詳細についてはお問い合わせください。
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取扱企業MFP-3D 原子間力顕微鏡用 サンプルマウント
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当社の事業グループには、EDS/EDXに代表される電子顕微鏡用分析装置を提供する分析機器事業部をはじめ、多様な光学イメージングソリューションを提供するアンドール・テクノロジー事業部、原子間力顕微鏡で評価の高いアサイラム・リサーチ事業部、ラマン顕微鏡のビーテック事業部、当社で最も長い歴史をもつ低温・超電導事業部などが含まれます。
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