基板成形品検査装置『SV-Eシリーズ』シリウスビジョン(旧ナビタスビジョン)

高解像度カメラを採用！欠陥検出の他、基板パターンの連続幅計測や、成形品の寸法計測にも適用可能

『SV-Eシリーズ』は、各種電子基板、特殊シート、成形品などの
印刷・パターン品質と外観を高精度で検査する画像検査装置です。

欠陥検査や計測・精密で過検知の少ない基板用検査装置
「SV-ES1000」や大判の基板フィルムに対応したラインセンサ
移動式検査装置「SV-EC2000」などをラインアップ。

高解像度カメラを採用し、サイズが10μm（径）レベルの欠陥を
検出し、欠陥検出の他、基板パターンの連続幅計測や、成形品の
寸法計測にも適用可能です。

【ラインアップ】
■基板検査装置「SV-ES1000」
■基板検査装置「SV-EC2000」
■カメラ固定型検査装置「SV-EB1000」

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連リンク - https://siriusvision.jp/products/#board-inspection

基本情報基板成形品検査装置『SV-Eシリーズ』

【特長】
＜基板検査装置「SV-ES1000」＞
■フィルム基板やタッチパネル基板、リジッド基板などの各種電子基板や特殊シート、
　大判印刷シート、組昨日電子部品などの高精度検査に好適
■高解像度ラインセンサを採用し、数十ミクロン幅のファインピッチパターンの
　外観・品質検査を低価格で実現
■パターン幅連続スライス計測によりマスターレスで突起・欠け・断線を検査

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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用途／実績例	【用途】 ■基板成形品検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。