超音波を使って非破壊・非接触で半導体内部を評価！【省スペース・低コスト】
超音波C-SCAN画像診断装置「InsightScan IS-350」は、超音波を使って非破壊で半導体内部を評価する装置です。
高速・高解像度新型スキャンシステムで、最小0.5μm各軸移動量、超高速A/D変換ボードとの組合わせにより微小欠陥検出が可能です。オプションで最高500MHzの高周波対応可能です。
※詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてご覧ください。
基本情報半導体・電子部品の内部を映像化！欠陥を見つける超音波診断装置
【特徴】
■高速・高解像度新型スキャンシステム
→最小0.5μm各軸移動量
→有効スキャニングエリア 350mm ×350mm（※拡張可能）
→音響インピーダンスの差では見れない欠陥を検出できる、非線形超音波法システム対応
■高速超音波全波形収集
■2ch 同時データ
■ユーザーフレンドリー
→省ペース： 700(W)×750(D)×1,300(H)mm (スキャナー本体)
→設置サイズ： 1,500(W)×800(D)×1,350(H)mm
→言語： 多国語対応（英語/中国語/フランス語/他）
→OS： Windows10標準
| 価格情報 |
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|---|---|
| 納期 |
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| 型番・ブランド名 | Model IS-350 |
| 用途／実績例 | ■電子部品、半導体パッケージ内部の欠陥検出と評価 ■接合構造ボンディングのボイド検出と評価 ■その他内部欠陥の検出と評価 |
カタログ半導体・電子部品の内部を映像化！欠陥を見つける超音波診断装置
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