高精度での厚さ測定が可能なＸ線厚さ計(XY軸スキャン)です
『SX-1100B』は、軟Ｘ線(軟エックス線)を利用した厚さ計(膜厚計)です。
シート・板状の物体の厚さ・密度(坪量)を非接触(軟X線)で測定します。
直接厚みを測るのではなく、基準物質との比較によって、
厚さ・密度(坪量)を算出します。
X線厚さ計のように透過減衰によって厚さを見積もる方式では、
空気層－サンプル－空気層と透過する間の減衰を測定し、
サンプルによる減衰が空気より遙かに大きいため、
搬送の影響は空気層の厚み変化として現れるのみで、影響は軽微です。
従って高精度で測定することができます。
【特長】
■広い計測対象に高精度
■安全性と高精度の両立
■特注対応
※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。
基本情報Ｘ線厚さ計(XY軸スキャン)『SX-1100B』
【仕様】
■測定方法：Ｘ線透過方式
■測定ピッチ：標準 2mm（さらに細かいピッチも対応可能）
■スキャン範囲：300×500mmなど(A3～A4サイズなどを全面測定)
■スキャン速度：15～300mm/sec（標準）
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|---|---|
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| 用途／実績例 | ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。 |
カタログＸ線厚さ計(XY軸スキャン)『SX-1100B』
取扱企業Ｘ線厚さ計(XY軸スキャン)『SX-1100B』
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