素材の厚さを非接触で測定する、X線厚さ計
『SX-1100』は、軟X線(軟エックス線)を利用した厚さ計(膜厚計)です。
シート・板状の物体の厚さ・密度(坪量)を非接触(軟X線)で測定します。
直接厚みを測るのではなく、基準物質との比較によって、
厚さ・密度(坪量)を算出します。
X線厚さ計のように透過減衰によって厚さを見積もる方式では、
空気層-サンプル-空気層と透過する間の減衰を測定しますが、
サンプルによる減衰が空気より遙かに大きく、
搬送の影響は空気層の厚み変化として現れるのみで、影響は軽微です。
従って高精度で測定することができるのです。
【特長】
■広い計測対象に対して高精度
■安全性と高精度の両立
■コンパクトなX線源と検出器
■豊富な計測ソフトと特注対応
※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。
基本情報X線厚さ計『SX-1100』
【仕様】
■測定方法:X線透過方式
■検出方法:シンチレーション検出器方式
■測定対象物:フィルム・箔など測定対象に合わせ最適設計
■測定ピッチ:標準 2mm(さらに細かいピッチも対応可能)
■スキャン幅:標準150~3000mm(他の幅も対応可能)
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用途/実績例 | ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。 |
カタログX線厚さ計『SX-1100』
取扱企業X線厚さ計『SX-1100』
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