santec Holdings株式会社 測定器『OCTシステム』
- 最終更新日：2016-06-15 18:28:37.0
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非接触・非破壊・非侵襲！
『OCTシステム』は、近赤外線の後方散乱光の干渉を利用することで
電子顕微鏡や実体顕微鏡とは異なり可視域で透明でなくても生体や試料
を摂取・破壊することなく、内部構造をリアルタイムに可視化する事ができる
リアルタイム非破壊光断層測定器です。
OCTシステムは、X線CT、MRI、超音波、共焦点顕微鏡に続く
最先端断層測定器で非接触・非破壊・非侵襲でかつ高速に
測定することが出来ます。
また、3次元撮影も可能です。
【特長】
■非接触・非破壊・非侵襲
■高速
■高文機能
■広範囲
■2D・3D断面計測
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報測定器『OCTシステム』
【メリット】
■内部構造をリアルタイムに可視化が可能
■生体や試料を採取・破壊する必要がない
■3D撮影も可能
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【用途】 ■産業用非破壊検査 ・膜厚（保護膜、塗装膜等） ・欠陥（プラスチック、樹脂整形品等） ・形状（半導体等） ■生物学・医学用顕微鏡 など ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
取扱企業測定器『OCTシステム』
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・santec AOC株式会社（光コンポーネント、光サブシステム、空間光変調器） ・santec LIS株式会社（波長可変光源、検査測定装置） ・santec OIS株式会社（波長可変光源、検査測定装置、医療機器） ・ネットワーク製品（PC遠隔支援、セキュリティL2スイッチほか）
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