三井金属計測機工株式会社 落葉果樹用非破壊検査装置『QSCOPE-F84』
- 最終更新日:2018-02-13 09:30:39.0
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透過光量の大小に関わらず高精度で測定!果実の温度変化に対する十分な対応
『QSCOPE-F84』は、落葉果樹用の非破壊内部品質センサです。
新規開発による高分解能処理部により、透過光量の大小に関わらず
高精度な測定が可能です。
計測部、制御部の2ユニット構造の従来機に比べ、設置面積1/2を達成。
一体化構造で少スペース化を実現しました。
【特長】
■上部透過型
■果実サイズによる測定影響の除去
■果実の温度変化に対する十分な対応
■リモートメンテナンス機能
■一体化構造で少スペース化
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報落葉果樹用非破壊検査装置『QSCOPE-F84』
【仕様(抜粋)】
■対象果実:桃・りんご・梨・マンゴー
■果実温度:0℃~35℃(但し、環境温度±10℃)
■果実サイズ:80mm~120mm(果実直径)
■コンベア速度:最大36m/分
■使用環境
・温度:-5℃~+40℃
・湿度:20%~80% 結露無きこと
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価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | 【用途】 ■落葉果樹の非破壊検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ落葉果樹用非破壊検査装置『QSCOPE-F84』
取扱企業落葉果樹用非破壊検査装置『QSCOPE-F84』
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