三井金属計測機工株式会社 落葉果樹用非破壊検査装置『QSCOPE-F84』

透過光量の大小に関わらず高精度で測定!果実の温度変化に対する十分な対応

『QSCOPE-F84』は、落葉果樹用の非破壊内部品質センサです。

新規開発による高分解能処理部により、透過光量の大小に関わらず
高精度な測定が可能です。

計測部、制御部の2ユニット構造の従来機に比べ、設置面積1/2を達成。
一体化構造で少スペース化を実現しました。

【特長】
■上部透過型
■果実サイズによる測定影響の除去
■果実の温度変化に対する十分な対応
■リモートメンテナンス機能
■一体化構造で少スペース化

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報落葉果樹用非破壊検査装置『QSCOPE-F84』

【仕様(抜粋)】
■対象果実:桃・りんご・梨・マンゴー
■果実温度:0℃~35℃(但し、環境温度±10℃)
■果実サイズ:80mm~120mm(果実直径)
■コンベア速度:最大36m/分
■使用環境
・温度:-5℃~+40℃
・湿度:20%~80% 結露無きこと

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価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 【用途】
■落葉果樹の非破壊検査

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カタログ落葉果樹用非破壊検査装置『QSCOPE-F84』

取扱企業落葉果樹用非破壊検査装置『QSCOPE-F84』

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■青果物非破壊内部品センサおよび、関連システムの設計・製造・修理および販売 ■電子製品、電子応用装置および電気計測器の設計・製造・修理および販売 ■産業機器向け部品等の製造、治具・検査装置等の設計・製造・修理および販売 ■建設業(機械機器設置工事業、熱絶縁工事業) ■食品向け/工業製品向けの計測装置開発・製造・修理及び販売

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