株式会社エムアイティ 表面パーティクル検出器『QIII SM / ST / SX』
- 最終更新日:2024-02-16 20:20:40.0
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試料表面のパーティクルを簡単・迅速に測定可能!
『Pentagon Technologies社製 QIII』は、わずか数秒で試料表面のパーティクルを検出/測定可能な装置です。
試料表面上のパーティクルを簡単・迅速に測定でき、クリーニングの手順と基準を定量的に
規定できるため、作業者の勘と経験に頼ること無く粒子管理のバラつきを抑えます。
精密洗浄パーツの出荷前・受入時の品質確認や各種製造装置のクリーン
維持管理に適しています。
また、「QIII SM / QIII ST 」は、昨今のクリーン環境で
使用する為の、ペンタゴン社独自技術が備わっております。
【特長】
■数秒で試料表面のパーティクル(0.1um~)を検出/計測
■7インチ高解像度WVGAのスクリーンがもたらす、きれいではっきりした画面表示
■計測したデータは、直接USBポート経由で、簡単にダウンロード可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報表面パーティクル検出器『QIII SM / ST / SX』
【効果】
■パーティクルに起因したトラブルの低減
■表面洗浄度管理・定量化
■各種装置メンテナンス回数の低減
【測定レンジ】
■QIII SM:0.3/ 0.5/ 1.0/ 3.0/ 5.0/ 10.0 μm
■QIII ST:0.1/ 0.2/ 0.3/ 1.0/ 3.0 / 5.0 μm
■QIII SX:5/ 10/ 25/ 50/ 100/ 125 μm
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
型番・ブランド名 | QIII SM / ST / SX |
用途/実績例 | 【用途】 ■精密洗浄パーツの出荷前・受入時の品質確認 ■各種製造装置のクリーン維持管理 ■クリーン化が求められる試料表面の洗浄度検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
ラインナップ
型番 | 概要 |
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QIII SM | 測定レンジ:0.3/ 0.5/ 1.0/ 3.0/ 5.0/ 10.0 μm |
QIII ST | 測定レンジ:0.1/ 0.2/ 0.3/ 1.0/ 3.0 / 5.0 μm |
QIII SX | 測定レンジ:5/ 10/ 25/ 50/ 100/ 125 μm |
詳細情報表面パーティクル検出器『QIII SM / ST / SX』
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QIII SM
測定レンジ:0.3/ 0.5/ 1.0/ 3.0/ 5.0/ 10.0 μm
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QIII ST
測定レンジ:0.1/ 0.2/ 0.3/ 1.0/ 3.0 / 5.0 μm
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QIII SX
測定レンジ:5/ 10/ 25/ 50/ 100/ 125 μm
カタログ表面パーティクル検出器『QIII SM / ST / SX』
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