カプセル外観検査システム『CVIS-NSシリーズ』第一実業ビスウィル

頭頂部に死角が無く、全周検査が可能！容易な脱着、システムの洗浄性が向上

『CVIS-NSシリーズ』は、4本の3CMOSカラーラインセンサで
カプセルを12方向から多角的に検査し高精度に不良を検出する
カプセル外観検査システムです。

頭頂部と胴部をユニット分割して凹み等を効果的に検出可能。

また明色と暗色の照明を分離することで、2色カプセルや
暗色カブセルなど様々な品種に対応します。

【特長】
■シンプル構造の整流部で圧倒的なスピードを実現
■品種切替作業での個人差を解消、作業時間を短縮（当社比約30％）
■モジュールユニット化により、容易な脱着、システムの洗浄性が向上
■V-IPU画像処理ユニット搭載
■12方向からの高精度検査システム

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連リンク - https://www.viswill.jp/goods/tv/others/cvis-ns-v1/

基本情報カプセル外観検査システム『CVIS-NSシリーズ』

【その他の特長】
■整列供給機構に構造がシンプルなディスク・トラック回転方式を採用
■全ボリューム値の自動設定
■カプセル搬送・検査エリアとカメラ・光源収納エリアを完全に分離するフレーム構造
■信号処理基板の集約とメンテナンスの容易化を「V-IPU画像処理ユニット」で実現
■従来の基板ベースでは困難だった「アルゴリズムの追加」はV-IPUの採用により
　極めて容易になった
■8エリアで撮像した映像を1枚の展開図にし、印刷を1文字ずつ検査するラベリング処理にて
　高精度印字検査を実現

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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納期	~ 1ヶ月
用途／実績例	【用途】 ■カプセル外観検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。