トライオプティクス・ジャパン株式会社 多目的テストチャート『TE42』
- 最終更新日：2018-07-12 17:55:08.0
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『TE42』は、当社が取り扱う、ImageEngineering社製の解析チャートです。
多目的のテストチャートで、画素数が2から170メガピクセルの間のカメラに
使用可能。一定の照明条件下でたった1枚の画像を撮影することにより
カメラの画質性能の概略を得ることができます。
また、解像度、テクスチャー再現、先鋭度、ダイナミックレンジ、ノイズ、
色再現、歪曲収差色収差と視覚等の分析を行うためのパターンで構成。
これらの解析は「iQ-Analyzerソフトウェア」で自動的に解析されます。
【特長】
■ダイナミックレンジは(反射式ターゲットの制限のため)10fストップまで測定が可能
■解像度は画像の中心と周辺で測定
■解像度解析のためSiemens starの周囲に強化リニアライゼーション
■将来のISO規格19567 テクスチャー規格をサポートする ローンラストのSiemens star
■画像に加えられたシャープニング解析のため様々なコントラストレベルの斜めエッジ
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報多目的テストチャート『TE42』
【その他の特長】
■歪曲収差はTV歪曲収差として測定
■色再現はColorChecker SGに対応する色で測定
■テクスチャー解析を改善するため2つのコントラストレベルの
カラー・ランダム・サークル・ストラクチャー（枯れ落ち葉）
■枯れ落ち葉と可視画像は中心から同じ半径距離位置に設置
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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| 用途／実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
詳細情報多目的テストチャート『TE42』
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iQ-Analyzerによる『TE42』の解析結果例
解像度解析
カタログ多目的テストチャート『TE42』
取扱企業多目的テストチャート『TE42』
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トライオプティクス・ジャパン株式会社 イメージエンジニアリング事業部
ドイツImageEngineering社の光学測定装置及び光学機器の輸入販売。
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