テクスチャー解析（テクスチャー・ロス）テストチャートトライオプティクス・ジャパン

ImageEngineering社製の精選テストチャートをご紹介！

コントラストを抑えた正弦波Siemens starはテクスチャー・ロス、つまり低い
コントラストの微細な細部の欠損を解析するのに極めて適しており、
イメージングシステムのテクスチャーの損失はノイズ低減やその他の
画像処理技術により発生します。

テクスチャー解析のための将来のISO規格195767-1は、低コントラストの
Siemens starの使用する方法で成立しています。ImageEngineering社の
解析ソフトウェア「iQ-Analyzer」の解像度モジュールは、新製品「TE280」
チャートを含み、Siemens starの解析をサポート。

枯れ落ち葉構造と位置合わせと線形化のために必要な周辺のマーカーで
構成された「TE276」もラインアップしております。

【ラインアップ】
■TE280
■TE276

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基本情報テクスチャー解析（テクスチャー・ロス）テストチャート

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カタログテクスチャー解析（テクスチャー・ロス）テストチャート

『ImageEngineering社　総合カタログ』

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取扱企業テクスチャー解析（テクスチャー・ロス）テストチャート

トライオプティクス・ジャパン株式会社イメージエンジニアリング事業部

■Image Engineering社の製品販売・サポート、ソリューションの提案、画質性能計測サービスの実施＜弊社横浜事業所にある主なデモ用・計測サービス用機材＞ ※はスペクトル可変iQ-LED搭載製品・光源（照明装置） iQ-Flatlight：反射チャート用拡散ライトパネル※　 LE7：透過チャート用積分球光源※ CAL2：カメラ校正用小型光源※ LG3：高照度・フリッカー照明装置　・測定装置 EX2：小型分光計※ LED-Panel：タイミング測定装置 GEOCAL：歪曲収差補正用カメラキャリブレーションデバイス・チャート TE42：多目的評価用 (ISO12233:2014, ISO15739) TE268：解像度 TE251：ディストーション TE188：カラー TE269B：OECF（ISO15739） TE269C：OECF（IEC62676-5） TE255：シェーディング・ケラレ TE292 (camSPECS plate)：分光感度特性・ソフトウェア iQ-Analyzer-X ：次世代画像解析ソフトウェア