パウダーテクノロジーラボ マイクロ光学技術※粉体、顆粒、非ニュートン流体インライン計測実現
- 最終更新日:2018-04-09 17:32:31.0
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粉体、顆粒、および非ニュートン流体の計測を実現するマイクロ光学技術は、
アメリカのセンサー機器を開発する専門メーカー、「Lenterra社」の技術です。
当社は、Lenterra製品の世界的な独占販売代理店です。
インラインでリアルタイムの粒子計測機能を提供しており、プロセスの理解と製造効率の改善を目指す多数の業界で利用可能です。
◆◇セミナー情報◆◇
「第2回フリーマンテクノロジー粉体流動性セミナー」
サブタイトル:最新の粉体流動性測定とPATツールとしての必要性
日時:5月22日(火)13-17時
場所:東京・神田 エッサム神田 2号館601
◆◇展示会情報◇◆
6/27~29開催インターフェックス2018に出展します!
小間番号:E4-16(原料加工ゾーン)
出展製品:パウダーレオメータFT4・インラインセンサーDFF
※活用事例の詳細、セミナーのお申込み書は【PDFダウンロード】よりご覧いただけます。
セミナーご参加希望の方は、下記リンクよりお申込みいただけます。
沢山のご来場をお待ちしております。
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基本情報マイクロ光学技術※粉体、顆粒、非ニュートン流体インライン計測実現
◆◇セミナー詳細情報◆◇
【タイムスケジュール】
13時受付開始
13:30-14:15
粉体流動性測定の難しさとパウダーレオメータFT4の必要性
担当:フリーマンテクノロジー
14:15-15:00
粉体流動性に影響を及ぼす粒子形状・粒度分布測定の重要性
担当:マルバーン・パナリティカル事業部
15:00-15:10 休憩
15:10-15:40
連続生産システムとPATツールの重要性
担当:フロイント産業
15:40-16:00
PATツールとしてのインラインセンサーDFFの活用
担当:フリーマンテクノロジー
16:00-16:20
PATツールとしてのPARSUMの説明
担当:マルバーン・パナリティカル事業部
16:20-16:40
質疑応答と展示デモ
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