アルバック・ファイ株式会社 デュアルX線光電子分光分析装置『PHI Quantes』

これまでの常識を超える新しい応用分野を切り開くXPS!

『PHI Quantes』は、エネルギーの異なる硬X線(Cr Kα線)と従来の
軟X線(Al Kα線)の2線源を搭載し、微小領域から大面積まで高感度な分析が
可能な走査型デュアルX線光電子分光分析装置 (XPS)です。

2種類のX線源は短時間・自動で切り替えが可能。
試料の同一箇所を分析することができます。

【特長】
■走査型デュアルモノクロX線源
■2線源による容易な同領域測定
■ターンキー帯電中和
■自動分析
■高耐圧アナライザ

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基本情報デュアルX線光電子分光分析装置『PHI Quantes』

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カタログデュアルX線光電子分光分析装置『PHI Quantes』

取扱企業デュアルX線光電子分光分析装置『PHI Quantes』

アルバック・ファイ.PNG

アルバック・ファイ株式会社 営業部 (国内・海外)

【取扱製品】 ■X線光電子分光分析装置 XPS  ・PHI Quantes  ・PHI 5000 VersaProbe III  ・PHI X-tool  ・PHI Quantera II(TM) ■走査型オージェ電子分光分析装置 AES  ・PHI 710  ・PHI 4800 ■飛行時間型二次イオン質量分析装置 TOF-SIMS  ・PHI nanoTOF II(TM)  ・MS/MS オプション ■四重極型二次イオン質量分析装置 D-SIMS  ・PHI ADEPT-1010(TM) ■高速分光エリプソメーター  ・PHI QuickSE シリーズ など

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