『内径外観検査装置』は、ワーク内面の目視検査の合理化・省力化を
実現し、高精度検査による製品品質を格段に向上させました。
KIRIN製ジャイロスキャンを用い、高精度の内面検査を行います。
条件により、最小Φ0.1mm程度の検出が可能で、部位ごとに判定基準を
設定できます。
また、ワークに応じた装置（メカ・制御）を設計・製作が可能で、
外径外観検査装置と組合せれば、内外面の検査も可能となります。
【特長】
■KIRIN製ジャイロスキャンを用い高精度の内面検査ができる
■条件により、最小Φ0.1mm程度の検出が可能
■高い再現性で自動検査を行う
■部位ごとに判定基準を設定可能
■ワークに応じた装置（メカ・制御）を設計・製作
■外径外観検査装置と組合せ、内外面の検査が可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報内径外観検査装置
【仕様(抜粋)】
■型式：MAC-754
■計測可能項目： 外観（キズ・巣・汚れ・異物・バリなど）
■対象ワーク内径： Φ6～Φ120mm
■最大検査長さ： 200mm（対象ワーク内径によって異なる）
■最小検出サイズ：Φ0.1mm程度（検査面の状態によって異なる）
■最小画素分解能：25μm×25μm/pix（ワーク内径、検査長によって異なる）
■備考：画像保存機能・自己診断機能あり
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ内径外観検査装置
取扱企業内径外観検査装置
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○各種自動制御盤の設計・製作 ○PLC（シーケンサ）（ラダー,FB,ST,SFC）・モーションコントローラ・タッチパネルソフトの開発 ○産業用ロボット制御システム,マシンビジョンシステムの開発 ○LabVIEWによるシステム開発 ○PLCとLabVIEWを複合した自動制御計側システム開発 ○リレー、スイッチデバイステスターの開発 ○画像処理システムの開発 ○PCSCADA（パソコンDCS）システムの開発 ○RT（リアルタイム）OS,FPGA計測システムの開発 ○CAN,GPIB,I2C,各種バス,フィールドネットワークによる自動計測・制御システムの開発 ○RF,TPMS計測器の開発 ○自動計測とExcel,Access,VBA,Visual Studio(C#,VB,C++)連携システムの開発 ○IoT,計側クラウドシステムの開発
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