株式会社ケンコー光学 【近赤外撮影用】テレセントリックレンズ
- 最終更新日:2020-06-02 16:40:21.0
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高倍率観察が可能!半導体デバイスの内部の観察や電気・電子部品の非破壊検査などに使用できます
『テレセントリックレンズ』は、近赤外波長コート@1100nmを中心に
高い透過率を実現しました。
赤外カメラとSWIR光源の組み合わせで、高倍率観察が可能。
シリコンウェハーやICチップなどの半導体デバイスの内部の観察をはじめ、
ソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査や、ウェハーや
フリップボンダー用の位置決めにお使いいただけます。
【特長】
■近赤外撮影用
■近赤外波長コート@1100nmを中心に高い透過率を実現
■赤外カメラとSWIR光源の組み合わせで、高倍率観察が可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報【近赤外撮影用】テレセントリックレンズ
【仕様(抜粋)】
■型式
・同軸:KCM-1DUMP-NIR
・ストレート:KCM-1UMP-NIR
■光学倍率:1
■W.D.(mm):65
■被写界深度(mm):0.63(最小錯乱円:40μm)
■分解能(μm):9.1(λ=940nm 1画素10μmにて計算)
■N.A.:0.063
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | 【用途】 ■シリコンウェハーやICチップなどの半導体デバイスの内部を観察 ■ソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査 ■ウェハーやフリップボンダー用位置決め ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
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