受託分析・試験サービス日本マーテック

お客様の製品開発等のスピードアップ、および製品品質向上に貢献いたします

当社は、半導体を中心としたエレクトロニクス分野及び自動車分野、
またライフサイエンス分野、材料分野において、お客様のご要望に応じて
信頼性試験、故障解析、材料分析のワンストップサービスをご提供します。

当社の名古屋ラボには、新鋭観察機器として知られている透過電子顕微鏡
（Talos・Titan）や高性能電子顕微鏡（NEOARM）を設置しており、それらの
先進設備を利用し、卓越した技術を習得したエンジニアが分析を行うことで
お客様に分析結果を迅速にお届けするサービスを得意としております。

ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。

【技術的な優位性】
■IC、発光デバイス及びフラットディスプレイの専門知識有り
■各種分析装置完備のラボ
■RA、FA、MA、SA、CA 各分野のソリューションが提案可能
■生産性の高い先端の設備、そしてその設備を操作可能な専門知識を保有

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

関連リンク - http://www.ma-tek.jp/

基本情報受託分析・試験サービス

【提供サービス】
■RA
　・ESD試験&回路デザイン
　・信頼性試験
　・非量産品のパッケージ封止
■FA
　・レベル1非破壊検査
　・レベル2電気的不良解
　・レベル3物理的故障解析
■Project
　・訴訟鑑定用の分析
　・不具合品の検証
　・知的財産権侵害検証　など
■MA、SA、CA
　・材料分析
　・構造解析
　・表面分析
　・化学分析
■CKT
　・FIB回路修正
　・ICボンディング

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