シナジーオプトシステムズ株式会社 光ビーム解析モジュール『AP013』
- 最終更新日:2020-09-04 17:17:58.0
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さまざまな光ビーム解析に対応する高機能画像処理解析システム
『AP013』は、レーザや光ファイバ・光モジュールなどの光ビームプロファイル
計測をはじめ、NFP・FFP・コリメート光等のさまざまな発光パラメータ計測を
目的とした画像処理・解析用モジュールです。
当社の光計測用光学系M-Scopeシリーズ・2次元光検出器ISAシリーズとの組合せにより、
可視~近赤外波長域のさまざまな光ビーム観察・光パラメータ計測に応用が可能です。
【特長】
■解析装置(PC本体)・解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データの
セットで直ちに使用可能
■【Optometrics BA Standard】さまざまな光ビームプロファイル計測に
対応した高機能光ビーム計測解析ソフトウエア
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報光ビーム解析モジュール『AP013』
【「Optometrics BA Standard」詳細】
■光ビームプロファイル計測に必須の光ビームパラメータ計測機能
■【光パワー分布解析機能】
EF(エンサークルドフラックス)/EAF(エンサークルドアンギュラーフラックス)解析機能
■【新機能:光パワー分布解析機能】D86幅解析機能
■【新機能/光パワー分布解析機能】4σ法によるXY軸幅・長短径幅・傾き計測解析機能
■光強度プロファイル計測のみに機能を限定したOptometrics BA Basicも選択可能
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用途/実績例 | ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。 |
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