当社では、複数台のセンサーを使用し分割測定結合機能で広視野高分解能の
3D測定を実現する広視野3次元測定装置『VYA-1』を取り扱っています。
更にCADデータを取り込み照合・判別が可能。
各種精密品のコプラナリティ検査にも適しています。
【使用例】
■半導体等の製品や精密治具測定
■OLED等の平面基板の形状測定
■はんだペースト塗布検査
■各種印刷版の形状検査
■薄物金型形状検査
■大型PCB基板の検査
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基本情報広視野3次元測定装置『VYA-1』
【装置基本仕様】
■センサヘッド:2ヘッド
■標準測定視野:500[mm]×500[mm]
■X軸最小分解能:2[μm]
■Y軸最小分解能:10[μm]
■測定時間:30[min]
■最大移動速度:300[mm/s]
■外形サイズ:1250[mm]×1000[mm]×1300[mm]
■電源電圧:AC100V-240V
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価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。 |
カタログ広視野3次元測定装置『VYA-1』
取扱企業広視野3次元測定装置『VYA-1』
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創業以来、スマートフォン等の液晶パネルの製造工場向けに、画像検査装置・製品管理装置や、UV硬化装置・組立装置など、数多くの装置を開発・導入してきました。 (1)画像検査:広視野・高分解能外観検査装置/表裏判定外観検査装置/不織布マスク検査外観装置 (2)メカトロニクス:3次元高さ形状計測装置/3次元厚み形状計測装置/ UV硬化装置/上下UV照射硬化装置/真空貼合機/バックライト自動組立装置/ACF圧着装置/外観検査装置/測定用多目的3軸ステージ/各種、省力化機械、組立機、自動化装置 (3)製品管理関連・トレーサビリティ・製品管理装置 WOCCSサーマルインクジェットプリンター/レーザーマーキング装置/インクジェットマーキング装置/OCR/バーコードリーダー/工程品質管理データベースシステム (4)ソフトウエア開発:ニューラルネットワーク/SVM/シリアル情報一括管理/画像・関連情報の一括管理/計測ソフトウエア/三次元高さ計測ソフト/各機器の専用ソフトウエアの開発
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