株式会社宇部情報システム 良否判定機能あり！UISの寸法測定システム
- 最終更新日：2024-12-10 12:56:56.0
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各種対象の「外形・長さ・ピッチ」などの計測に合わせ、高精度な良否判定機能も備えています
『寸法測定システム』は、カメラで写した映像を解析し、物体の寸法を計測
します。測定手法、測定ポイントを規準（値）としてあらかじめ登録し、
瞬時に寸法を測定できるとともに、手作業による測定誤差を減らします。
計測イメージ・原理として、まず画像中の物体の境界を検出。検出したエッジ
から、各種形状へ近似処理を行い、様々な幾何学計算から寸法を測定。
お客様のニーズにより、卓上型手動検査装置やローダー／アンローダーを
備えた自動検査装置としてもご提供致します。
【特長】
■工業製品の寸法測定作業を簡略化
■カメラで写した映像を解析し、物体の寸法を計測
■測定手法、測定ポイントを規準（値）としてあらかじめ登録
■瞬時に寸法を測定可能
■手作業による測定誤差を減らす
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報良否判定機能あり！UISの寸法測定システム
【計測機能】
■エッジ検出
■幾何学計算
■位置決め機能
■近似処理
■計測処理
■キャリブレーション
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【適用事例】 ■鉄・アルミ加工品 ■プラスチック容器 ■半導体 ■電子部品 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
取扱企業良否判定機能あり！UISの寸法測定システム
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製造業における基幹業務（販売・生産・物流・会計など）や工場の自動化（ＦＡ）等のシステム構築、コンピュータ支援による技術解析（CAE）を得意としており、優れたソフトウェアの最適な組み合わせによって短期間かつ費用対効果に優れた情報システムの提案から構築・運用サポートまでを支援させていただきます。 【サービスメニュー】 ■システム・インテグレーション ■システム商品 ■CAE（コンピュータ支援エンジニアリング）・データ解析利活用 ■システム運用
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