JSM-IT510 InTouchScope 走査電子顕微鏡アズサイエンス

SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。

日本電子株式会社 JSM-IT510 InTouchScope 走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡 (SEM) は研究だけでなく、品質保証や製造現場で欠かせないツールなっています。そのような現場では、同じ観察作業を繰り返し行う必要があり、工程の効率化が求められてきました。
JSM-IT510は新たに加わったSimple SEM機能では、SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。

〇特長
・Simple SEM 撮影したい視野を選ぶだけ
・安全・簡単！試料交換ナビ
・Zeromag 光学像を拡大すれば、SEM像
・Live Analysis / Live Map 観察中も常に元素分析
・充実の機能

※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

基本情報JSM-IT510 InTouchScope 走査電子顕微鏡

【仕様】
JSM-IT510 Seriesは4タイプがあります。
・BU (Base Unit)
　高真空下での観察が可能なベーシックタイプ
・A (Analysis)
　エネルギー分散型X線分析装置 (EDS) が構成された、標準で分析が可能な分析タイプ
・LV (Low Vacuum)
　反射電子検出器（BED）が構成された、低真空下 (最大650 Pa) での観察が可能な低真空タイプ
・LA (Low Vacuum & Analysis)
　BEDとEDSが構成された、低真空分析タイプ

※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

価格情報	お問い合わせください。
価格帯	1000万円 ~ 5000万円
納期	お問い合わせください ※配送地域により変動がありますので、お気軽にお問い合わせください。
型番・ブランド名	JSM-IT510 InTouchScope
用途／実績例	【用途】金属材料、半導体材料、ソフトマテリアル / 高分子材料、生体試料の分野