JIB-4700F 複合ビーム加工観察装置アズサイエンス

1kVの低加速電圧で保証分解能1.6nmを実現しました

日本電子株式会社 JIB-4700F 複合ビーム加工観察装置は、形態観察、元素分析や結晶解析などの評価技術にも高い分解能と精度のニーズに応える装置です。
「インレンズショットキー電子銃」との組み合わせで、高分解能観察と高速分析が可能です。

〇特長
・高分解能SEM観察
・高速分析
・高速加工
・検出システム強化
・三次元観察、三次元分析

※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

基本情報JIB-4700F 複合ビーム加工観察装置

【仕様】
〇SEM
　加速電圧：0.1 ～ 30.0 kV
　分解能(最適WD時)：1.2 nm (15 kV, GBモード)
　　　　　　　　　 1.6 nm (1 kV, GBモード)
　倍率：x20 ～ 1,000,000(LDFモード搭載)
　
〇FIB
　加速電圧：1 ～ 30 kV
　像分解能：4.0 nm (30kV)
　倍率：x50 ～ 1,000,000(x50 ～ 90は加速電圧15kV以下で可能)
　

※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

価格情報	お問い合わせください。
価格帯	1億円 ~
納期	お問い合わせください ※配送地域により変動がありますので、お気軽にお問い合わせください。
型番・ブランド名	JIB-4700F
用途／実績例	【用途】金属材料の微細領域を三次元観察、元素や結晶の三次元観察など