アズサイエンス株式会社 半導体、セラミックス、学術研究や開発、原子分解能での観察などに!
- 最終更新日:2024-11-29 11:30:09.0
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分野にお使いいただける、日本電子株式会社商品を3つご紹介いたします。
〇JSM-IT200 InTouchScope 走査電子顕微鏡
シンプルに、使いやすくしたコストパフォーマンス重視の製品です。初心者に優しい試料交換ナビで、試料セットから視野探し、SEM画像の観察開始まで容易に行うことができます。
〇JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡
日本電子独自の技術で開発された冷陰極電界放出形電子銃(Cold-FEG)と高次の収差まで補正可能な新型球面収差補正装置(ASCOR)を標準搭載し、200 kVの高加速電圧だけでなく30 kVの低加速電圧においても原子分解能での観察を実現しました。高速かつ正確な収差補正を自動的に行うシステムも搭載しております。
〇JEM-F200 多機能電子顕微鏡
空間分解能と分析性能を向上させるとともに、多目的な使い方における操作性を考慮した新しい操作システムを搭載し、電子顕微鏡の初心者から熟練者まで思わず使いたくなるようなスマートな外観を備え、省エネルギー化とCO2削減をコンセプトとして開発された電界放出形透過電子顕微鏡です。
基本情報半導体、セラミックス、学術研究や開発、原子分解能での観察などに!
〇JSM-IT200 InTouchScope 走査電子顕微鏡
視野探しを光学顕微鏡感覚で行えるZeromag
分析を意識しなくても元素分析結果が分かるLive Analysis
観察/分析をまとめてレポート作成が行えるSMILE VIEW Lab
上記の分析業務のためのソフトが一つになりました。
〇JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡
分解能:STEM HAADF 像 70 pm (200 kV)、100 pm (80 kV)、160 pm (30 kV)
TEM 情報限界 100 pm (200 kV)、110 pm (80 kV)、250 pm (30 kV)
磁場フリーモード:ローレンツ・倍率設定モード ( 画面上 ×50 ~ 80 k) – 標準搭載
〇JEM-F200 多機能電子顕微鏡
分解能:超高分解能構成、高分解能構成
加圧電圧:200,80kV
TEM 粒子像
超高分解能構成:0.19nm
高分解能構成:0.23nm
価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | 〇JSM-IT200 InTouchScope 走査電子顕微鏡 用途:ナノテクノロジー、半導体、セラミックスや医学生物学の研究等に 〇JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡 用途:大学におおける学術研究、企業における研究開発・品質管理 〇JEM-F200 多機能電子顕微鏡 用途:原子分解能の観察、各種元素分析 ※特長や仕様などの詳細は特設サイトの製品ページをご覧いただくか、PDFをダウンロードしてご覧ください。また、お気軽にお問い合わせもお待ちしております。 この他にも多数商品掲載ございますので、特設サイトを是非ご覧ください。 |
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