超広角カメラ低照度測定用多目的チャート『TE42-LL UW』トライオプティクス・ジャパン

超広角カメラ向け低照度測定において最適な多目的テストチャート！ImageEngineering社製の精選テストチャートをご紹介！

『TE42-LL UW (TE42-LL Ultra-Wide)』は、ImageEngineering社の低照度測定用多目的チャート『TE42-LL』を超広角カメラ向けに改良したテストチャートで、テスト画像に存在する歪曲収差が原因で正確な解像度の測定が困難な超広角カメラの低照度測定に適しています。歪曲収差が存在する場合（超広角カメラにおいては一般的）でも解像度をより正確に測定できるように、格子状のターゲットを使用しています。
TE42-LL UWは、iQ-Analyzer-X ソフトウェアのバージョン 1.10.0以降で解析可能です。

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基本情報超広角カメラ低照度測定用多目的チャート『TE42-LL UW』

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カタログ超広角カメラ低照度測定用多目的チャート『TE42-LL UW』

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取扱企業超広角カメラ低照度測定用多目的チャート『TE42-LL UW』

トライオプティクス・ジャパン株式会社イメージエンジニアリング事業部

■Image Engineering社の製品販売・サポート、ソリューションの提案、画質性能計測サービスの実施＜弊社横浜事業所にある主なデモ用・計測サービス用機材＞ ※はスペクトル可変iQ-LED搭載製品・光源（照明装置） iQ-Flatlight：反射チャート用拡散ライトパネル※　 LE7：透過チャート用積分球光源※ CAL2：カメラ校正用小型光源※ LG3：高照度・フリッカー照明装置　・測定装置 EX2：小型分光計※ LED-Panel：タイミング測定装置 GEOCAL：歪曲収差補正用カメラキャリブレーションデバイス・チャート TE42：多目的評価用 (ISO12233:2014, ISO15739) TE268：解像度 TE251：ディストーション TE188：カラー TE269B：OECF（ISO15739） TE269C：OECF（IEC62676-5） TE255：シェーディング・ケラレ TE292 (camSPECS plate)：分光感度特性・ソフトウェア iQ-Analyzer-X ：次世代画像解析ソフトウェア