アスペクト比2種対応低照度測定チャート『TE42-LL 2AR』トライオプティクス・ジャパン

2種のアスペクト比に対応可能な低照度測定用多目的テストチャート！ImageEngineering社製精選テストチャートをご紹介！

『TE42-LL 2AR (TE42-LL Two Aspect Ratios)』は、ImageEngineering社の低照度測定用多目的チャート『TE42-LL』に2種のアスペクト比が組み込まれたテストチャートで、4:3 と 16:9 の両方のアスペクト比が 1 枚のチャートにまとめられています。チャートの中心はTE42-LLとまったく同じですが、2種の異なるアスペクト比に対応するために、外側に Siemens starsが追加されています。このバージョンには仕切り壁があり（簡単に挿入または取り外しが可能）、「ツイン」シーンを作成することができます。

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基本情報アスペクト比2種対応低照度測定チャート『TE42-LL 2AR』

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カタログアスペクト比2種対応低照度測定チャート『TE42-LL 2AR』

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取扱企業アスペクト比2種対応低照度測定チャート『TE42-LL 2AR』

トライオプティクス・ジャパン株式会社イメージエンジニアリング事業部

■Image Engineering社の製品販売・サポート、ソリューションの提案、画質性能計測サービスの実施＜弊社横浜事業所にある主なデモ用・計測サービス用機材＞ ※はスペクトル可変iQ-LED搭載製品・光源（照明装置） iQ-Flatlight：反射チャート用拡散ライトパネル※　 LE7：透過チャート用積分球光源※ CAL2：カメラ校正用小型光源※ LG3：高照度・フリッカー照明装置　・測定装置 EX2：小型分光計※ LED-Panel：タイミング測定装置 GEOCAL：歪曲収差補正用カメラキャリブレーションデバイス・チャート TE42：多目的評価用 (ISO12233:2014, ISO15739) TE268：解像度 TE251：ディストーション TE188：カラー TE269B：OECF（ISO15739） TE269C：OECF（IEC62676-5） TE255：シェーディング・ケラレ TE292 (camSPECS plate)：分光感度特性・ソフトウェア iQ-Analyzer-X ：次世代画像解析ソフトウェア