トライオプティクス・ジャパン株式会社 アスペクト比2種対応低照度測定チャート『TE42-LL 2AR』
- 最終更新日:2024-07-19 16:38:00.0
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『TE42-LL 2AR (TE42-LL Two Aspect Ratios)』は、ImageEngineering社の低照度測定用多目的チャート『TE42-LL』に2種のアスペクト比が組み込まれたテストチャートで、4:3 と 16:9 の両方のアスペクト比が 1 枚のチャートにまとめられています。チャートの中心はTE42-LLとまったく同じですが、2種の異なるアスペクト比に対応するために、外側に Siemens starsが追加されています。このバージョンには仕切り壁があり(簡単に挿入または取り外しが可能)、「ツイン」シーンを作成することができます。
基本情報アスペクト比2種対応低照度測定チャート『TE42-LL 2AR』
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カタログアスペクト比2種対応低照度測定チャート『TE42-LL 2AR』
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トライオプティクス・ジャパン株式会社 イメージエンジニアリング事業部
■Image Engineering社の製品販売・サポート、ソリューションの提案、画質性能計測サービスの実施 <弊社横浜事業所にある主なデモ用・計測サービス用機材> ※はスペクトル可変iQ-LED搭載製品 ・光源(照明装置) iQ-Flatlight: 反射チャート用拡散ライトパネル※ LE7: 透過チャート用積分球光源※ CAL2:カメラ校正用小型光源※ LG3:高照度・フリッカー照明装置 ・測定装置 EX2:小型分光計※ LED-Panel:タイミング測定装置 GEOCAL:歪曲収差補正用カメラキャリブレーションデバイス ・チャート TE42:多目的評価用 (ISO12233:2014, ISO15739) TE268:解像度 TE251:ディストーション TE188:カラー TE269B:OECF(ISO15739) TE269C:OECF(IEC62676-5) TE255:シェーディング・ケラレ TE292 (camSPECS plate):分光感度特性 ・ソフトウェア iQ-Analyzer-X :次世代画像解析ソフトウェア
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