株式会社宇部情報システム パターン外観検査システム*
- 最終更新日：2024-11-26 15:51:51.0
- 印刷用ページ
『パターン外観検査システム』は、モノクロ／カラーラインセンサカメラ
（最大16K）により超高解像度の画像を撮像し、オープン・ショート・欠け・
異物・凹凸などの各種欠陥を高精度に検出します。
検査対象パターン輪郭を直線で囲み、マスタとなる形状を登録し、輪郭の内側・
外側を個別に検査します。検出強度を個別に設定することが可能。
お客様のニーズにより、卓上型手動検査装置やローダー／アンローダーを備えた
自動検査装置としてもご提供致します。
【特長】
■マスター登録方式を採用
■良品ワークを画像で取り込み、マスターに品種を登録
■複数登録可能（学習機能）
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報パターン外観検査システム*
【標準機能】
■良品マスター学習機能：統計的登録学習
■個別位置決め追従機能：各層／部品の位置ずれに対応
■位置ずれ判定機能：位置ずれ寸法異常の検出
■未検査領域軽減機能：多層製品において、パターン位置ズレにより生じる未登録領域も検査可能
■過剰検出軽減機能：不良位置比較判定
■機差補正：モノクロ検査時、号機間の違いを自動補正
■画像補正：シェーディング、回転、各種デジタルフィルター
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
取扱企業パターン外観検査システム*
-
-
製造業における基幹業務（販売・生産・物流・会計など）や工場の自動化（ＦＡ）等のシステム構築、コンピュータ支援による技術解析（CAE）を得意としており、優れたソフトウェアの最適な組み合わせによって短期間かつ費用対効果に優れた情報システムの提案から構築・運用サポートまでを支援させていただきます。 【サービスメニュー】 ■システム・インテグレーション ■システム商品 ■CAE（コンピュータ支援エンジニアリング）・データ解析利活用 ■システム運用
パターン外観検査システム*へのお問い合わせ
お問い合わせ内容をご記入ください。