日本セミラボ株式会社 ライフタイム測定装置
- 最終更新日：2020-07-17 08:56:06.0
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u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります
オプションにて様々な電気的測定のマッピング測定が可能です。
(拡散長、鉄濃度、比抵抗、シート抵抗、LBIC、反射率、IQE、PN判定)
基本情報ライフタイム測定装置
ライフタイム測定装置 WT-2000は、u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります。
シリコン・ブロック/ウェハーのライフタイム測定をし、マッピング表示が可能です。
※ シリコンウェハー/ブロックのインライン全自動測定装置もございます。
| 価格情報 | - |
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| 納期 |
お問い合わせください
※2〜4ヶ月 |
| 型番・ブランド名 | SEMILAB社製 WT-2000 |
| 用途／実績例 | 太陽電池マーケットでは、世界的に業界標準化しており、ブロック/ウェハー製造(インライン)、セル工程など様々な開発、製造管理工程などでご使用頂いております。 |
取扱企業ライフタイム測定装置
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■半導体測定装置の輸入販売及び技術サービスの提供 ■下記製品の取り扱いをしています。 分光エリプソメーター 非接触シート抵抗測定装置 DLTS測定システム ナノインデンター AFM（原子間力顕微鏡） キャリア移動度測定装置 非接触CV測定装置 ライフタイム測定装置 フォトルミネッセンス 装置仕様や価格情報などお気軽にお問い合わせください。
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