株式会社フォトンプローブ 顕微鏡搭載型光ヘテロダイン変位計
- 最終更新日:2020-05-08 16:11:15.0
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極めて微少な変位量を、レーザ光を用いて非接触で計測!過渡応答現象測定に適した、光ヘテロダイン変位計
光ヘテロダイン変位計の1プローブ1出射型のプローブを
顕微鏡鏡筒上部に設置し、顕微鏡による観察と同時に変位量を測定する
顕微鏡搭載型光ヘテロダイン変位計
【特徴】
○被測定物の測定点をピンポイント
○被測定物状態観察と並行計測可能
○落射照明系、CCDカメラを取りつけ通常の顕微鏡として
被測定物を視認すると共にCCDカメラを用い
ディスプレイ(CRT)上で被測定面状態を観測
○ステージ上に様々な装置を取り付けることも可能
○ステージに自動ステージを取り付けることで、自動化することも可能
○手動ステージか自動ステージかで構成の大きさが異なります。
○ヘテロダイン変位計の選択はHV400,HV250いずれも可能
●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。
基本情報顕微鏡搭載型光ヘテロダイン変位計
光ヘテロダイン変位計の1プローブ1出射型のプローブを
顕微鏡鏡筒上部に設置し、顕微鏡による観察と同時に変位量を測定する
顕微鏡搭載型光ヘテロダイン変位計
【特徴】
○被測定物の測定点をピンポイント
○被測定物状態観察と並行計測可能
○落射照明系、CCDカメラを取りつけ通常の顕微鏡として
被測定物を視認すると共にCCDカメラを用い
ディスプレイ(CRT)上で被測定面状態を観測
○ステージ上に様々な装置を取り付けることも可能
○ステージに自動ステージを取り付けることで、自動化することも可能
○手動ステージか自動ステージかで構成の大きさが異なります。
○ヘテロダイン変位計の選択はHV400,HV250いずれも可能
●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。
価格情報 | - |
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納期 | お問い合わせください |
型番・ブランド名 | HVM-400、HVM-250 |
用途/実績例 | 【用途】 ○微少形状物の変位量分布測定 ○面粗さ・うねり分布測定 ○全体像と微少部分の変動の関連性・相関測定 ○全体像の観察と測定の同時進行 |
カタログ顕微鏡搭載型光ヘテロダイン変位計
取扱企業顕微鏡搭載型光ヘテロダイン変位計
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