株式会社ＩＨＩ検査計測 表面解析サービス
- 最終更新日：2012-10-10 18:23:22.0
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IHI検査計測社が取り扱う
表面解析サービスのご紹介です。
表面解析を行うことは、プロセス開発・製品の表面状態評価
経年変化/健全性評価の観点で重要となっています
【主要設備】
○FE-SEM/EDS分析装置
・分析領域：深さ方向：数μm、観察視野：5×104倍
・ 走査型電顕により表面形状を観察しながら
元素の定性/定量分析実施。表面形状および付着元素の概要の把握に最適
○AES分析装置
・分析領域：深さ方向：1nm、観察視野：104倍
・深さ方向の分解能がnmオーダーレベルであり
極表面の分析および薄膜の分析に最適
○XPS分析装置
・分析領域：深さ方向：数nm、観察視野：5mmφ
・深さ方向の分解能がnmオーダーレベルであり
観察視野は、AESより広いが、元素の結合状態の分析より
化学式の推定が可能
○EPMA分析装置
・分析領域：深さ方向：数μm、観察視野：104倍
・走査型電顕により表面形状を観察しながら元素の定性/定量分析実施
●その他機能や詳細については、お問合わせ下さい。
基本情報表面解析サービス
IHI検査計測社が取り扱う
表面解析サービスのご紹介です。
表面解析を行うことは、プロセス開発・製品の表面状態評価
経年変化/健全性評価の観点で重要となっています
【主要設備】
○FE-SEM/EDS分析装置
・分析領域：深さ方向：数μm、観察視野：5×104倍
・ 走査型電顕により表面形状を観察しながら
元素の定性/定量分析実施。表面形状および付着元素の概要の把握に最適
○AES分析装置
・分析領域：深さ方向：1nm、観察視野：104倍
・深さ方向の分解能がnmオーダーレベルであり
極表面の分析および薄膜の分析に最適
○XPS分析装置
・分析領域：深さ方向：数nm、観察視野：5mmφ
・深さ方向の分解能がnmオーダーレベルであり
観察視野は、AESより広いが、元素の結合状態の分析より
化学式の推定が可能
○EPMA分析装置
・分析領域：深さ方向：数μm、観察視野：104倍
・走査型電顕により表面形状を観察しながら元素の定性/定量分析実施
●その他機能や詳細については、お問合わせ下さい。
| 価格情報 | - |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【用途】 ○付着物の組成分析、腐食生成物の分析 ○複合蒸着膜の界面分析 ○ステンレス鋼の不動態皮膜の構造分析 ○拡散接合部の合金元素分布測定 |
カタログ表面解析サービス
取扱企業表面解析サービス
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《経営理念》 当社は、「安全を優先し、顧客のニーズを満足することにより得られる信頼の確保ならびに企業活動のあらゆる分野での地球環境保全への努力」を基本理念とし、「正確な検査・計測サービスを広く社会に提供し、安全な社会の建設・維持に貢献できるよう、自らの検査・計測技術の向上に努めることに加えて、検査・計測に関する理論研究、新たな装置の開発などを通じて、検査・計測業界ひいては社会の発展に貢献する。」ことを経営理念としています。
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