株式会社アークステーション

当社は半導体前工程（ウェーハプロセス）向け検査・分析装置の販売、保守・…

新品、中古装置含め、検査・分析装置は各種取り扱いがあります。（全自動XPS膜厚濃度測定装置、重ね合わせ精度測定装置、両面座標測定装置、膜厚測定装置、エリプソメーター、光学式三次元測定装置、ウェーハエッジ検査装置、透明ウェーハ表裏欠陥検査装置、外観検査装置、実体顕微鏡、露光装置）

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ANVOS Analytics株式会社

分光分析を用いた材料の受託分析・分光分析のトータルサポートなら当社へ

当社は、ドイツの大学・理化学研究所・大手受託分析会社で培った 先端の分光分析技術及びノウハウで測定条件の検討やデータ解析を提供いたします。 また、分光知識習得のためのコーチング・トレーニングの提供、目的に応じて 最適化されたオリジナル光学系の設計・作成、ソフトウェア作成を通じて 分析化学のための業務効率化ソリューションをお届けいたします。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください…

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