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〈XPS・TOF-SIMS〉 表面分析とは何か・表面分析の種類等、基…
X線光電子分光法 ・TOF-SIMS 飛行時間型二次イオン質量分析法 ■分析事例 ・XPSによるSiC表面の状態・膜厚評価 ・Cu表面の酸化状態の定量 ・XPS多点測定による広域定量マッピング ・XPSによるDLCの評価 ・リチウムイオン二次電池におけるLiの結合状態別定量 ・プラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査 ・ケミカルシ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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