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分光干渉方式による薄膜の高精度測定を実現!3層までの多層測定に対応可能
定部のサイズが小さく コンパクトです。 【特長】 ■1mmピッチのデータを測定・表示 ■解析方法はカーブフィッティング法とFFT(高速フーリエ変換)法の 2パターンを使用可能 ■放射線を使用した厚さ計ではないため、管理者や管理資格が不要 ■測定条件を1000品種登録できる ■目的にあったグラフが表示できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ヒューテック
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