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今までリアルタイムで測定できなかった半導体の加速度試験が測定できます。
半導体デバイスの品質管理において、動作状況での加速度を印加し半導体デバイスの特性を測定する方法として、衝撃試験機の単独試験や振動試験機を用いた方法で行われてきました。しかし、これらの方法では印加加速度に限界があり、しかも連続的な高加速度を印加することができませんでした。 動的遠心加速度試験装置 Model DAT-1は、これまでの培ってきた遠心式加速度試験装置の技術を応用し、高加速度の遠心力によ...
メーカー・取り扱い企業: 三井電気精機株式会社
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ヒューマニティーとテクノロジーの融合それが三井電気精機の永遠の夢です。
有史以来、人間が求めてきた科学技術の進歩は、今やとどまるところを知りません。 今日の繁栄は、人間がゆえに成し得た偉業であり、絶え間ないチャレンジ精神と常に新しいものを創造し続ける姿勢に培われたものです。これこそが業界のスペシャリストとしての三井電気精機創業以来テーマでもあります。最新技術に先取の気質を持って望み、高精度・高信頼度を誇るオリジナリティあふれる製品開発に取り組んでいます。 しかしな...
メーカー・取り扱い企業: 三井電気精機株式会社
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