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高効率太陽電池開発用測定装置
(ウェハー厚4倍までの拡散長測定9 - ALID(高速光劣化測定) - 非接触CV測定 - 非接触Suns-VOC測定 - JOマッピング測定(Emitter Saturation Current9 - シート抵抗測定 - LBIC(反射率、IQE) - 比抵抗測定 ...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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