• 『次世代シーケンサ 受託解析サービス』研究支援サービス 製品画像

    『次世代シーケンサ 受託解析サービス』研究支援サービス

    PRシーケンシングから候補遺伝子の絞り込みまで、研究支援のための一貫したソ…

    当社は、シーケンシング、候補遺伝子の絞り込み、データ評価のプロセスを カバーする『次世代型シーケンサ受託解析サービス』を行っています。 豊富な知見をもとに、研究テーマに合わせた解析方法の選定をはじめ、 解析後のデータ評価も含め、専門スタッフがサポート。一貫したサービスにより、 お客様の研究成果に繋がるソリューションを提供可能です。 【特長】 ■次世代型シーケンサによる受託解析方...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社メイズ

  • ナノシミュレーション 製品画像

    ナノシミュレーション

    Nano-simulation

    ナノシミュレーションは物理・化学法則に基づいて原子・分子を取り扱う計算科学手法であり、多様な現象を理解するために活用できます。単分子・クラスター等の非常に小さく単純な系から、界面・欠陥・外場(電場、圧力など)といった比較的複雑な系まで取り扱うことができます。 ■有効な場面 ・着目現象に対し、原子・分子レベルで立てた仮説の検証をしたいとき ・各種分光スペクトルの詳細な帰属・解釈を行いたいとき ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】素子分離領域の歪解析 製品画像

    【分析事例】素子分離領域の歪解析

    NBD:Nano Beam Diffractionによる微小領域の歪解…

    NBD法では電子線が試料中で回折する角度(電子回折スポット位置)の変化から、格子歪に関する知見を得ることができます。任意の晶帯軸入射方向で、デバイスパターンに合わせた測定が可能です。 素子分離領域(LOCOS周辺)のSi基板について測定した結果、熱処理温度・結晶方向によって歪量が異なっていることが確認できました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SEM装置での歪み評価 製品画像

    【分析事例】SEM装置での歪み評価

    EBSD:電子後方散乱回折法

    TEM(NBD:Nano Beam Diffraction)のような薄片化加工を行うことなく、バルク状態での測定が可能です。 SEM特有の高い空間分解能を持ち、比較的高い歪み感度を持っています。 また、局所的な格子歪...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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