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途中で発生する後天的バッドブロックの監視し、発生位置や回数をPCに出力
この書込みシステムは、お客様の検査部門で有効なNANDデバイスの 品質確認のための不良ブロックの確認システムです。 対象デバイスに対して、ERASE-PROGRAM-VERIFY(データは任意に設定可能)を 繰り返し、途中で発生する後天的バッドブロックの監視などを行います。 試験内容の変更(例:ERASEのみを繰り返す)、バッドブロックの発生位置...
メーカー・取り扱い企業: 東亜エレクトロニクス株式会社 フラッシュサポートグループカンパニー
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