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〈XPS・TOF-SIMS〉 表面分析とは何か・表面分析の種類等、基…
★掲載内容★ ■表面分析の基礎 ・表面分析とは? ・表面分析の使い分け ・XPS分析でできること ・TOF-SIMS分析でできること ・XPS,TOF-SIMS分析でできること ■各手法の詳細情報 ・XPS X線光電子分光法 ・TOF-SIMS 飛行時間型二次イオン質量分析...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…
【分析手法一覧】 ※こちらに記載の無い手法についても、ご相談承ります。 『測定法』 ○質量分析法 SIMS 二次イオン質量分析法 TOF-SIMS 飛行時間型二次イオン質量分析法 ICP-MS 誘導結合プラズマ質量分析法 ほか ○光電子分光法 XPS X線光電子分光法 UPS 紫外光電子分光法 ○電子顕微鏡観察・分析 ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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