NMRベースのAvance化学プロファイリングモジュール

PR入荷品のテスト、プロセス中間体のモニタリング、最終製品配合のスクリーニ…

新しいNMR ベースの『Avance Chemical Profiling』モジュールは、 分光学の専門家とのやり取りを必要とせず、サンプルから実用的な 情報インテリジェンスまで、包括的なソフトウェアベースの自動化された エンド・ツー・エンドのワークフローです。 データ取得、処理、解釈、レポート作成などのタスクに対応。 純粋な形状または混合物中の物質の同定と定量を自動的に可能にし...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 バイオスピン事業部

技術情報誌 201911-02 バイオイメージングへの取り組み

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

はLDI-MS、SIMS、LA-ICP-MSなどMSイメージング分析が可能な様々な装置を有しており、それぞれ特長を活かした分析が可能である。 【目次】 １．はじめに ２．LDI-MS ３．TOF-SIMS ４．LA-ICP-MS ５．NanoSIMS ６．おわりに...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

初心者向けオンライン講座(e-learning)【表面分析】

表面分析を基礎から学びたい方向きの講座です。 TOF-SIMS、RBS…

面分析を基礎から学びたい方向きの講座です。受講期間中、本講座に関する質問を受け付けております。 以下について、易しく、コンパクトに解説しています。 表面分析について TOF-SIMS:飛行時間型２次イオン質量分析法（原理、スペクトル例） RBS：ラザフォード後方散乱分析法（原理、スペクトル例） XPS：X線光電子分光法（原理、スペクトル例） ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

技術情報誌 201907-01 全固体電池設計・開発のための分析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

材料開発 ３．電池作製プロセス改善 ４．まとめ 【図表】 図１　RBS-HFS-NRA法の原理 図２　硫化物固体電解質のRBS-HFS-NRAスペクトル、及びフィッティング結果 図３　TOF-SIMSによる表面コート層の被覆状態評価 図４　TEM-EDXによる表面コート層の被覆状態評価 図５　3D-SEMによる分散性評価、及び各パラメータ抽出結果 図６　3D-SEMによる活物質...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

出張講座～分析技術セミナーを出張開催致します～

新入社員研修や技術者向け社内研修など、ご要望に応じて講師を派遣させてい…

定します。 【講座内容例】 赤外分光法（IR） ラマン分光法 X線回折・散乱 核磁気共鳴分光法（NMR） X線光電子分光法（XPS/ESCA） 二次イオン質量分析法（D-SIMS 、TOF-SIMS） ラザフォード後方散乱分光法（RBS） 電子顕微鏡（TEM、SEM） 原子間力顕微鏡（AFM） 力学特性解析 ナノインデンテーション 高分子レオロジー クロマトグラフィー...

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技術情報誌 202201-02 fsLA-ICP-MS

フェムト秒レーザーアブレーション－誘導結合プラズマ質量分析法は生体組織…

価 ４．マウス脊髄中の鉄、亜鉛定量イメージング ５．まとめ 【図表】 図１　ICP-MSの構成 図２　fsLA-ICP-MSの構成 表１　fsLA-ICP-MS, NanoSIMS, TOF-SIMSの比較 図３　マウスがん組織のBNCT用ホウ素薬剤分布像 図４　FeおよびZnの脊髄用検量線 図５　マウス脊髄（腰髄）中のFe, Zn定量イメージング結果（n=3）...

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