• 【分析事例】化粧品塗膜の3D観察 製品画像

    【分析事例】化粧品塗膜の3D観察

    リキッドファンデーションの塗膜をマクロからミクロまで可視化

    プラスチック基材に塗布したリキッドファンデーションをX線CTおよびクライオSEMで観察し、試料内部の分散状態を可視化しました。 X線CTでは非破壊かつ非接触で巨視的な形態を確認でき、クライオSEMではさらに微視的な構造を観察することができます。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】パンケーキ内部の空隙評価 製品画像

    【分析事例】パンケーキ内部の空隙評価

    食品の内部構造をX線CTによって非破壊観察

    学的に評価する上で、内部の空隙は柔らかさを評価するための指標となります。 パンケーキ内部の空隙を評価するため、材料となる卵を通常量使用したパンケーキ[1]と倍量使用したパンケーキ[2]を準備し、X線CTにて内部空隙の観察を行いました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】電子デバイス内特異箇所の複合解析 製品画像

    【分析事例】電子デバイス内特異箇所の複合解析

    デバイス内部の構造を複合的に評価します

    MSTでは電子デバイス内部の構造評価に適した技術を取り揃えており、観察視野や目的に応じた分析手法をご提案します。 本資料では、X線CTとFIB-SEMを用いてデバイスの特異箇所を調査した事例を紹介します。まずX線CTを用いてサンプル全体の内部構造を観察し、特異箇所を探索しました。続いて、ビア上に確認された特異的な構造物について、...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 技術情報誌 201904-02 セルロースナノファイバー構造解析 製品画像

    技術情報誌 201904-02 セルロースナノファイバー構造解析

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    処理CNF・TEMPO CNFのTEM写真 EVA/NR/TEMPO CNFのTEM写真 EVA/天然ゴム/機械処理CNFの特殊染色TEM写真 PP/CNF 20wt%のSEM像、TEM像、X線CT像と画像解析結果、3DSEM像...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 201904-03 線膨張係数の実測値 製品画像

    技術情報誌 201904-03 線膨張係数の実測値

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    響評価を行った結果について紹介する。 【目次】 試料 実測およびシミュレーション解析方法 CNF配向の比較 線膨張係数(CTE)の比較 【図表】 図1~図7 表1~表3 CNFのX線CT、3D SEM観察結果、配向シミュレーション結果 PP単体とCNF 20%/PPの線膨張率(ΔL/L0)温度曲線 CNF 20%/PPのCTEシミュレーション結果...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • [C-SAM]超音波顕微鏡法 製品画像

    [C-SAM]超音波顕微鏡法

    C-SAMは、試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です…

    C-SAMは、SAT:Scanning Acoustic Tomographyとも呼ばれます。 ・X線CTによる観察では確認が困難な「電極の接合状態」や「貼り合わせウエハの密着性」などの確認に有効。 ・反射波のほか、透過波の取得も可能。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】X線CTによるポリウレタン内部の空隙率評価 製品画像

    【分析事例】X線CTによるポリウレタン内部の空隙率評価

    X線CTによる多孔質樹脂材料の解析事例

    ポリウレタンは高い反発弾性が特徴の樹脂材料です。そして、ポリウレタン製品の一種である硬質ウレタンフォームは住宅用の断熱材などに利用されています。 本事例では、板状の硬質ウレタンフォームについて、X線CTを用いて内部の空隙の形状を観察しました。 その結果、内部に多数存在する個々の空隙の形状を確認することができました。さらに、得られたデータを用いて空隙率の定量的な評価を行いました。 測定法:X線...

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  • 【分析事例】トランジスタ内部の状態評価 製品画像

    【分析事例】トランジスタ内部の状態評価

    デバイス内部の異常を非破壊で評価します

    外観検査では分からないデバイス等の故障原因を調査するために、X線CTをはじめとする非破壊による評価が必要となる場合があります。 X線CTを用いて不具合のあったトランジスタを測定し、内部の状態を確認しました。 その結果、ワイヤーの断線が確認された他、断線時の熱な...

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