多目的X線散乱装置 SAXSpoint 5.0

1台で超小角から広角まで測定できる多目的X線散乱システム

S、 UV-VisSAXS、 etc ・q範囲： 0.01 nm^-1 ～ 49.3 nm^-1 ・観測可能な面間隔: 0.12 nm ~ 628 nm ・Ｘ線源：Primux 100 micro microfocus X-ray source (Cu、 Mo、 Ag、 Cr) ・検出器：Dectris社製 Eiger2 R 1M ・温度範囲: -150℃ ~ +600℃ ・雰囲気...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アントンパール・ジャパン