• 超解像顕微鏡 N-SIM S 製品画像

    超解像顕微鏡 N-SIM S

    ナノスケールでの観察の可能性が拡がります。

    M モード)、86 nm(TIRF-SIM モード) Z軸方向解像度:269 nm( 3D-SIM モード) 画像データ取得時間:最速毎秒15フレーム(TIRF-SIM/2D-SIM、露光時間2 msec) 再構築画像サイズ:1024×1024画素、2048×2048画素 ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: アズサイエンス株式会社 松本本社

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