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セミコンダクタ・スマートフォンなどの研究開発のためのナノインデンテーシ…
エレクトロニクス・半導体産業では製品開発のためにナノインデンテーションテスタによる表面機械特性評価が用いられます。 微小荷重にてダイヤモンド圧子を対象サンプルに押し込むことにより、硬さ・弾性率・粘弾性・貯蔵弾性率・損失弾性率・クリープ率などの物性値を測定することができます。 ナノインデンテーション試験では数百ナノ~数百ミクロンの薄膜や柔らかいポリマーの評価が可能です。 測定例 -スマートフォ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アントンパール・ジャパン
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薄膜の密着性・傷つき易さの定量化・ナノスクラッチ試験
に標準膜厚1000 nm以下の薄膜やコーティングの実際的な密着性評価に最適です。 有機系及び無機系のコーティングや、軟質及び硬質のコーティングの分析に使用できます。 光学用途から、マイクロエレクトロニクス用途、保護膜、装飾膜など様々な用途向けの、薄膜・多層膜のPVD・CVD・PECVD膜、フォトレジスト、塗装、ラッカーなどの膜の評価に利用できます。 金属合金、半導体、ガラス、反射材や有機材料...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アントンパール・ジャパン
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スクラッチ試験機による液晶保護フィルムの傷のつきやすさの評価
鉛筆硬度試験に代わる傷つき易さの定量化
に標準膜厚1000 nm以下の薄膜やコーティングの実際的な密着性評価に最適です。 有機系及び無機系のコーティングや、軟質及び硬質のコーティングの分析に使用できます。 光学用途から、マイクロエレクトロニクス用途、保護膜、装飾膜など様々な用途向けの、薄膜・多層膜のPVD・CVD・PECVD膜、フォトレジスト、塗装、ラッカーなどの膜の評価に利用できます。 金属合金、半導体、ガラス、反射材や有機材料...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アントンパール・ジャパン
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